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▻/strong>概要
日本分光株式会社生产的可以分先span>浊/span>定的?/span>描型接近圹/span>光学昽/span>?span>镛/span>NFS系列,世界一流、span>还/span>台装置能10-100nm左右的空闳/span>分解劚span>迚/span>衋span>昽/span>微分先span>浊/span>量。能在微小的颅/span>埞span>观测先span>谱强?span>受/span>化以及波?span>变换可更好的对物质特性描?/span>、/p>
◆特?/p>
?世界**台一体化扫描型近?span>圹/span>光学分光显微镛/span>
?数十~百nm高空间分辨率测量显微分光、/p>
?使用日本分光制的探头可准确使用特定大小的近接场光、/p>
?可同旵span>测量样品表面微小的凹凸形状。和原子劚span>显微镛/span>(AFM(span>类似的用法、/span>
?illumination(透过)、collection illumination-collection测量方式、/p>
◆近接場光学显微分光装置
对于微小领域的表征方法有利用电子线的电子显微镜形态观寞/span>?/span>X线微分析仪,扫描型探头电镛/span>表面形状观察、/span>这些分析方法可以得到高空间分辨率的画僎/span>、但?/span>得不到样品表面的化学信息。另外,虽然?/span>显微FT/IR分光?/span>显微光激发光分光?/span>昽/span>微拉曼光等可以得到表面化学信息,但是因为穹/span>间分辨率有限?/span>、所得到的信息也停留在微米量级。原因是光的衍射是有限度的不能超过使用波长范围、/span>
主要有以下种类。重点介绍近?/span>场显微红外分光系绞/span>、/span>别的型号详细请咨诡/span>、/span>
?NFIR-250的FT部装有大型测量用的样品室,可对应一般的红外测量、/p>
机种 |
NFIR-200/250 |
测量方式 |
杂散光测量方弎/span>、光?/span>调整方式?/span>探头位置调整方式 |
检测器 |
设置数量?*1/span>秌/span>标准检测器:液佒/span>氮气冷却MCT检浊/span>?/span>选项检浊/span>器:液体氮气冷却InSb检测器切换方式9/span>电动 |
样品台范図/span> |
竕/span>?/span>2020m、高16m |
傅里叶变换型分光系统 |
测量波长范围9/span>4000}/span>1000 cm-1 (MCT使用旵/span>(/span>5000}/span>2000 cm-1 (InSb使用旵/span>)分辨玆/span>9/span>400px-1干渉計:45入射迈克尔选/span>干渉讠/span>分速器9/span>Ge/KBr |
微型样品宣/span> |
裄/span>夆/span>'/span>NFIR-250(/span> |
控制?/span>PC |
OS9/span>Windows XP、通信9/span>16bit AD/DA松/span>?/span> |
软件 |
反馈信号显示器及映射测量软件3次元表示软件?/span>探头见/span>察用CCD画像表示软件映射解析软件?/span>光谱解析软件 |
尺寸?重量 |
W1000 x D900 x H1300 mm?/span>280kg'/span>NFIR-200?/span>含防振台(/span>W1600 x D750 x H1300 mm?/span>300kg'/span>NFIR-250?/span>含防振台(/span> |
电源 |
AC100V10% 250VA(本体)?/span>150VA'/span>FT)?/span>100VA'/span>PC(/span> |
其他必要的工其/span> |
防振台用空气源:氮气或空气源 0.3}/span>0.8MPa |
暂无数据