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▻/span>概要
自动**反射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过、/span>用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量、/span>入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且,根据任意设宙/span>P偏光咋/span>S偏光角度,能研究样品的偏光特性、/span>
可选择用在紧凑的中型机秌/span>V-600系列紫外可见近红外分光光度計上,也可以选择用在适合高分辨率,高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上、/span>
◅/span>装置特点
?PC直接控制设定角度及光谱测量等条件?测量范围广,从紫外到运/span>红外区域?双光束光学系统,测光稳定性好?可分别控制入射角、受光角?标配偏光测量功能?专用的样品池支架,样品的装卸简協/span>
◅/span>规格
▻/span>ARMV-734/ARMN-735 ?/span>?*反射玆/span>测量组件'/span>V-600用)
型号 |
ARMV-734 |
ARMN-735 |
测定波长范围 |
250}/span>850nm |
250}/span>2000nm |
测量方式 |
测量**反射率?/span>测量逎/span>迆/span>玆/span> |
|
入射觑/span> |
5}/span>60(测量**反射率)?/span>0}/span>60(测量逎/span>迆/span>) 0 ~ 85ℂ/span>(大入射觑/span>样品支架?/span>选项) |
|
角度间隔 |
0.1间隔 |
|
设定方式 |
同期、非同期(入射部和受光部(/span> |
|
测量偏光 |
S偏光( 0)?/span>P偏光( 90)?/span>N偏光( 45)、任愎/span>设定 |
›/span>ARMV-734用于V-650?60?/span>ARMN-735用于V-670、/span>
▻/span>VAR-7010/7020/7030 自动**反射玆/span>测量组件'/span>V-7000用)
型号 |
VAR-7010 |
VAR-7020 |
VAR-7030 |
测量波长范围 |
250}/span>900nm |
250}/span>2000nm |
250}/span>1800nm |
测定方式 |
测量**反射玆/span>?/span>测量透过玆/span> |
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入射觑/span> |
5}/span>60(测量**反射率)?/span>0}/span>60(测量透过) 0 ~ 85ℂ/span>(大入射觑/span>样品支架?/span>选项) |
||
角度間隔 |
0.1间隔 |
||
设定方式 |
同期、非同期(入射部和受光部(/span> |
||
测量偏光 |
S偏光( 0)?/span>P偏光( 90)?/span>N偏光( 45) |
›/span>VAR-7010用于V-7100?/span>VAR-7020用于V-7200?/span>VAR-7030用于V-7300、/span>
暂无数据