Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪

F80-C膜厚测量仪使生产晶片的测量变得简单实惟�/p>

工艺工程师希望薄膜厚度测量是快速容易的，现在高精度的厚度成像技�?span>� Filmetrics 可以快速建立配方，并且拥有行业**的测试速度，而且价格仅仅是同行业测量设备的小部分� F80 可以应用在化学机械抛光、化学气相沉积、蚀刻等工艺中，这是晶片追索工艺工程师所期待的、�/p>

新技�?span>=低成�?/p>

与传统的测量工具不同� F80 不需要高精度的移动硬件去找寻微小的测� pads，相反的，它可以快速的测量每个 pad 附近数以千计点的厚度，然后处理“厚度成像”结果，进而找到正确的厚度。可以有效的替换昂贵皃�span>移动硬件，进而节约很高的成本、�/p>

使用****的方侾�/p>

因为使用厚度成像技术， F80 不依赖过时的基于视频的图像识别技术，这意味着� CMP 应用中通常会遇到的前后表面光对照比不同的问题，� F80 系统中是不存在的� 也意味着配方的建立更自动化和直观，数�?span>可以及时存，从而节省了时间，训练及减少误操作引发的错误、�/p>

快逞�/p>

因为厚度成像技术， 300 毫米晶片� F80 上扫� 21 点仅仅只需� 29 秒的时间，非常快速、�/span>

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