看了Filmetrics F3光学膜厚测量仪的用户又看亅/p>
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Filmetrics F3 薄膜厚度测量?/p>
经济适用的反射率测试系统
F3系统是专门为采集反射率光谱曲线设计的,并且可选配至厚度和指数测试功能,基本通用型拥?0000个小时适用寿命的光源及自动波长校准,大大提高了测试准确度、/p>
快速厚度测诔/p>
升级厚度测试软件许可后,厚度值将在测试数据结果中直观的显示。软件中存入了常用的介质材料及半导体层的光学常数、/p>
指数测试功能(n k(/p>
对于更高级用户来说, 指数测试软件升级能在短时间内提供折射率和消光系数、/p>
Filmetrics的优劾/p>
桌面型薄膜厚度测量的全球***
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直观的分析软仵/p>
陃/span>功/span>牸/span>?/span>
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免费离线分析软件
精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结枛/span>
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点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易
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