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Phasics SID4系列 波前传感?/span>
法国Phasics 公司的产品基于其波前测量**技术,? 波横向剪切干涉技术。(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上,这种独特技术将高分辨率和大动态范围较好结合在了一起。任何应用下,其都能实现全面、简便、快速的测量。具有如下独特技术优势:
高分辨率的相位图,高分辨率可辽/span>400w/span>300、/span>
具有直接测量高发散光束的能力
消色?/strong>,匹酌/span>CCD整个探测范围,用于不同波长光而无需额外校准、/span>
应用方向9/span>
激光束质量分析
自适应光学
光学系统测量
生物成像
热成像,等离子体表面物理
型号 | SID4 | SID4-HR | SID4-DWIR | SID4-SWIR | SID4-NIR | SID4-UV | SID4 UV-HR |
孔径 | 3.6 4.8 mm2 | 8.9 11.8 mm2 | 13.44 10.08 mm2 | 9.6 7.68 mm2 | 3.6 4.8 mm2 | 7.4 7.4 mm2 | 8.0 8.0 mm2 |
空间分辨玆/span> | 29.6 m | 29.6 m | 68 m | 120 m | 29.6 m | 29.6 m | 32 m |
采样炸/span>/测量炸/span> | 160 120 | 400 300 | 160 120 | 80 64 | 160 120 | 250 250 | 250 250 |
波长 | 400 nm ~ 1100 nm | 400 nm ~ 1100 nm | 3 ~ 5 m 8 ~ 14 m | 0.9 ~ 1.7 m | 1.5 ~ 1.6 m | 250 ~ 450 nm | 190 ~ 400 nm |
动态范図/span> | > 100 m | > 500 m | N/A | ~ 100 m | > 100 m | > 200 m | > 200 m |
精度 | 10 nm RMS | 15 nm RMS | 75 nm RMS | 10 nm RMS | > 15 nm RMS | 20 nm RMS | 10 nm |
灵敏?/span> | < 2 nm RMS | < 2 nm RMS | < 25 nm RMS | 3 nm RMS (高增益)< 1 nm RMS (低增益) | < 11 nm RMS | 2 nm RMS @ 250 nm 2 J/cm2 | 0.5 nm |
采样频率 | > 100 fps | > 30 fps | > 50 fps | 25/30/50/60 fps | 60 fps | 30 fps | 30 fps |
处理频率 | 10 Hz (高分辨率) | 3 Hz (高分辨率) | 20 Hz | > 10 Hz (高分辨率(/span> | 10 Hz | > 2 Hz (高分辨率(/span> | 1 Hz |
尺寸 | 54 46 75.3 mm | 54 46 79 mm | 85 116 179 mm | 50 50 90 mm | 44 33 57.5 mm | 53 63 83 mm | 95 105 84 mm |
重量 | 250 g | 250 g | 1.6 kg | 300 g | 250 g | 450 g | 900 g |
暂无数据