看了Phasics SID4波前传感器的用户又看亅/p>
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基于Phasics四波横向剪切干涉**技术,SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率'/span>160x120测量点),且使用简便、/span>
SID4-HR 光学器件测量自适应光学
特点9/span>
由于其独特的**技术技术,Phasics皃/span>SID4波前传感器具备以下特点:
1.超高分辨率:160x120测量炸/span>
2.直接测量发散和准直光杞/span>
3.仍/span>400?/span>1100nm消色?/span>
4.自校准:振动不敏感和容易对齐
5.紧凑,体积小
应用9/span>
SID4波前传感器提供新的可能性应用:
激光:光束诊断、自适应光学
光学:精密透镜测试和表面测野/span>
生物学:显微自适应光学
SID4产品参数9/span>
波长范围 | 400 - 1100 nm |
通光孔径 | 3.6 x 4.8 mm2 |
空间分辨玆/span> | 29.6 m |
采样点(相位/强度(/span> | 160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相对灵敏?/span> | < 2 nm RMS |
相位精度 | 10 nm RMS |
动态范図/span> | > 100 m |
采样频率 | > 100 fps |
实时分析频率 | > 10 fps (full resolution) |
数据接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 54 x 46 x 75.3 mm |
重量 | ~250 g |
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