看了phasics SID4 NIR波前传感器的用户又看亅/p>
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基于Phasics四波横向剪切干涉**技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盕/span>1.5- 1.6m,具有超高分辨率'/span>160x120测量点)。确保非常精确的波前测量。结构紧凑,很容易集成到一个光学台用于镜头测试或镜头校准。它也适用于光学表面测试、/span>
SID4-HR 光学器件测量自适应光学
特点9/span>
由于其独特的**技术,Phasics皃/span>SID4-NIR波前传感器具备以下特点:
1.高分辨率9/span>160x120测量炸/span>
2.高数值孔径测野/span>:无需转镜夳/span>
3.消色?/span>9/span>1.5-1.6m
4.结构紧凑:易于集成于光学系统
应用9/span>
SID4 NIR主要应用镜头测试和光学系统校准。适用于所有的近红外光学,如用于电信领域或光谱和夜视设备、/span>
镜头表征:实时提侚/span>MTF和畸变数据。结构紧凑,易于集成于试验台和生产线、/span>
光学设备校准:它提供了一个非常准确的*小像差测量、/span>
SID4 NIR产品参数9/span>
波长范围 | 1500 - 1600 nm |
通光孔径 | 3.6 x 4.8 mm2 |
空间分辨玆/span> | 29.6 m |
采样点(相位/强度(/span> | 160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相对灵敏?/span> | < 11 nm RMS |
相位精度 | 15 nm RMS |
动态范図/span> | ~ |
采样频率 | > 60 fps |
实时分析频率 | > 10 fps (full resolution) |
数据接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 44 x 33 x 57.5 mm |
重量 | ~250 g |
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