裂变径迹年代学，是一种根据矿物中重核元素238U裂变产生的辐射损伤特性进行分析的技术，锆石和磷灰石是两种主要分析矿物�?0多年来，裂变径迹在原理方法和应用研究上逐步深入，并取得了进展和突破。与U-Pb和Ar/Ar中、高温热年代相比，裂变径迹热年代以低温封闭特性为特色，它们与U-Th/He热年代数据一道，成为约束低温段造山带剥露、地形地貌和沉积盆地热演化的重要手段、�/span>

德国徕卡的裂变径迹显微分析系统，适于磷灰石\锆石等裂变径迹的研究，通过徕卡智能型显微镜的自动化操作，对两个样本对应区域进行自动镜像精准定位、对比统计；能自动完成矿物颗粒分析、径迹数目统计、测量径迹与C轴角度、测野�/span>Dpar�?/span>Dper值，依据自发径迹密度和诱发径迹密度计算裂变径迹表观年龄、�/span>

系统组成

• 徕卡智能型全自动研究级显微镜：�/span>

• 高精度自动扫描台：�/span>

• 自动聚焦模块：�/span>

• 自动物镜转盘：�/span>

• 编码识别变倍系统；

• 智能型光强、光阑控制；

• 研究级彩色数码摄像头：�/span>

• 专业的裂变径迹应�?/span>软件包、�/span>

裂变径迹显微分析系统的主要功能：

• 统计软件模块能在高分辨率下，对两个范围对应区域进行自动镜像对比统计、�/span>

• 统计软件模块能自动完成颗粒数目统计、�/span>

• 统计软件模块能自动读出径迹长度、�/span>

• 各种软件生成或导出的数据文件能与 Microsoft Excel 软件格式相匹配，进行数据的后�?/span>

• 处理：�/span>

• 功能的控制及图像灰度、长度、计数等有关参数的计算；

• 实现径迹长度和计数等功能的软件，即图像采集、处理、分析、管理等处理软件，外设控制或可选插件的控制：摄像机的获取插件控制；XY 载物台控制；

• 多维图像获取和浏览插件，用于多时间点、多波长、多位点的图像获取；

• 自动薄片扫描控制；自动聚焦控制；

• 文件管理控制等、�/span>