看了海洋光学膜厚测量仪的用户又看亅/p>
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膜厚测量?/span>
通过薄膜表面与基底材料反射光的干涉现象,可快速可靠地测量半透明及透明膜的厚度。非接触式测量,不会破坏测试样品
NanoCalc测试系统主要包括:宽带光源、高性能线阵CCD光谱仪、传输光纤、样品测试台及测量分析软件。NanoCalc膜厚测量仪适合于在线膜厚测量,包括氧化层、氮化硅薄膜,感光胶片及其它类型的薄膜,NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷等物质上的抗反射涂层、抗膜涂层、/span>
NanoCalc膜厚仪基本性能9/span>
◎/span>基本型号:NanoCalc-UV/VIS/NIR & NanoCalc-UV/VIS & NanoCalc-VIS/NIR
◎/span>光谱范围?50~1100nm(UV/VIS/NIR) & 900-1700nm(512-NIR)
◎/span>膜厚分辨率:0.1nm
◎/span>测量时间?00ms~1s
◎/span>多达10层膜厚测野/span>
◎/span>快速响应:在线测量
◎/span>基底材料:钢/??陶瓷/塑料筈/span>
◎/span>新型号:NanoCalc-MIK中整合摄影机
◎/span>材料库: 400种材料的n和k值且可添功/span>
◎/span>应用场合:氧化物/SiNx/感光保护?半导体膜
NanoCalc膜厚仪应用软仵/span>◅/span>膜厚测量/n&k值测野/span>◅/span>用户自定义材料层结构◅/span>自动调整积分时间◅/span>层材料信息分层显礹/span>
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