看了MDPlinescan在线晶圆?晶锭点扫或面扫检测仪的用户又看了
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l各种不同的样品,从单晶硅到多晶硅,从生长的晶片到加工过的晶片,都可以通过MDPlinescan使用少子寿命测量进行检测、/span>
lMDPlinescan是一个易于集成的OEM单元,可集成到各种自动化的检测线。关键的测量参数是实时的载流子寿命扫描、/span>
l样品通常由测量头下的传送带或机器人系统来输送。应用实例从晶锭到晶圆的检测,每个晶圆的测量速度小于一秒、/span>
l该仪器有许多专门应用可能性。由于其易于集成,只需要以太网连接和电源即可、/span>例如+/span>电池生产线上的来料质量检查是兵/span>*常用的一种应用方向,同样,钝化和扩散后的工艺质量检查也能用到此款产品、/span>
特性▼
l允许单片调查
l配方的基础测量
l监控材料质量、工艺的完整性和稳定?/span>
优势▻/span>
l?/span>-PCD或稳态激发条件下测量少数载流子寿命和电阻率是这个工具的重点、/span>
l用于集成在生产线的多晶或单晶硅晶圅/span>,包括材料制备,和各种工艺处理阶段、/span>
l小尺寸和标准的自动化接口使集成变得容易。优势是长时间的可靠性和测量结果的高精度、/span>
样品种类 |
多晶或单晶晶元片 晶锭,晶胝/span> |
样品尺寸 |
大约50 x 50 mm2 |
电阻玆/span> |
0.2 - 103 Ohm cm |
电导类型 |
p n |
材质 |
硅晶圆,部分或完全加工晶圆,化合物半导体筈/span> |
测量属?/span> |
载流子的少子寿命 |
硬件接口 |
ethernet |
大小 |
174 x 107 x 205 mm 重量: 3 kg |
电源 |
24 V DC 2 A |
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