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在工业及科研领域,经常需要对样品进行非破坏性的元素分析,同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求,如RoHS分析,贵金属检测等 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度,非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司**推出的SPECTRO MIDEX X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求,可*迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求,德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化,使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜
SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统,集准直、聚焦、样品激发于一体,是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX 适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件,使操作极为简便。测量点直径?.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX 也可满足快速分析的需要,?分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析
SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构,海关商检、造币工业等,还可完成其它分析任务如:非破坏性检查,贵金属分选,电子线路及电气元件的分析等、/p>
技术参数:
? 激
- Mo 靶X光管
**功率?0W?*电压?8kV
- 测量点尺
Midex SD: 1 mm Midex LD: 1.2 mm
样品
- 可显示样品的摄像系统(可调?
- 手动调节样品台,样品定位简
- 马达驱动精确移动的XYZ样品台,
**行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’?宽x深x?
**样品重量?kg/6.6 lbs
计算
- 外置式计算机系统,Windows
操作系统
- 键盘,鼠标,显示器,打印
- 菜单式软件,光谱仪参数调整和
数据评估及计算,元素成分及分布显
检测器
- Peltier 冷却的Si 漂移检测器:
Midex SD: 10 mm2 Midex LD: 30 mm2
- 以Mn K线,在测量计数率
10?00脉冲计数时, 能量分辨率:FWHM< 160 eV
- 微处理器控制的检测器和读出电
- 脉冲计数率可?50?00 cps
光谱仪数
- 电压?5-120V/200-240V?0/60 Hz
- 光谱仪能耗:200W
- 仪器尺寸 宽x x 高,单位mm
580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1
- 底座尺寸宽x 淰500x550 mm/19.7x21.6
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配
分析
- 用于合金元素分析的基本参数程序FP +
- 塑料及复合材料的RoHS指令检
环境条件
- 周围环境温度?-30C ?1-85F
?0-25C ?8-77F)下,可达到标定仪器性能
- 25C (77F)下相对湿? 10-80 %,无冷凝,无蒸气腐蚀,防尗/p>
主要特点9/strong>
SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是**推出的第三代**产品,不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定,还可对超大样品的表面(面积可达EC标准线路板规格的2倍, 233x160 mm)进行元素分布分析、/p>
1 超大样品室● 长:520 mm(20.5 '') 宽:310mm(12'')
2 微聚焦分析,不需要破
3 自由样品?
? 创新
? 1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线,集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制,代表性强,实用性强,准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量
2.采用高分辨,高计数率,电制冷的SDD检测器,实际分辨率160eV,计数率高达250?00cps,非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单,无需繁琐而危险的液氮添加过程
3.激光配合CCD摄像机双定位,样品分析点可视,可调。定位精度高。分析点的照片可截屏,出具报告时可以粘贴在报告中
4.分析速度快,可在180秒内完成各类样品的分析任
5.可选配狭缝交换器,测试点的尺寸可调,由0.2毫米?.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分,一般分析点的尺寸为1毫米
6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台,完成点,线,面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析
7.超大样品室,可完成超大样品的分析,样品的尺寸可以达到300*200*150mm(长*?高)。同时可完成超小样品1mm样品的分枏/p>
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