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LJD-C介电常数及介质损耗测试仪
仪器介绍
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频?MHz)下绝缘材料的测试、/span>
技术参?/span>
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内i高的160MHz LJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术: 1 双扫描技 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能、/span> 2 双测试要素输 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入、/span> 3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐、/span> 4 自动化测量技 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量、/span> 5 全参数液晶显 数字显示主调电容、电感 Q 值、信号源频率、谐振指针、/span> 6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定、/span> 7 计算机自动修正技术和测试回路z优化 —使测试回路 残余电感减至zui低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑、/span> LJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为精确,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位、/span> |
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主要技术特?/strong> |
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Q 值测量范図/span> |
2 1023 量程分档 30 100 300 1000 ,自动换档或手动换档 |
固有误差 |
5 满度值的 2 %( 200kHz 10MHz ), ? 满度值的2%(10MHz?60MHz(/span> |
工作误差 |
? 满度值的2 200kHz 10MHz ), ? 满度值的2%(10MHz?60MHz(/span> |
电感测量范围 |
4.5nH 140mH |
电容直接测量范围 |
1 200pF |
主电容调节范図/span> |
18 220pF |
主电容调节准确度 |
120pF 以下 1.2pF 120pF 以上 1 $/span> |
信号源频率覆盖范図/span> |
100kHz 160MHz |
频率分段 虚拟 (/span> |
100 999.999kHz 1 9.99999MHz?0 99.9999MHz 100 160MHz |
频率指示误差 |
3 10 -5 1 个字 |
LJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪
仪器介绍
LJD-B全数字显示介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频?MHz)下绝缘材料的测试、/span>
LJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪读书清晰,无须换算,操作简便,特别适合电子元器件的质量分析,品质控制,科研生产,也可用于高校的电子信息,电子通信,材料科学等专业作科研实验仪?
技术参?/span>
信号源频率范図/span> |
DDS数字合成 10KHz-60MHz |
Q测量范围 |
1-1000自动/手动量程 |
信号源频率覆盖比 |
6000:1 |
Q分辨玆/span> |
4位有效数,分辨率0.1 |
信号源频率精?/span> |
3X10 -5 1个字?位有效数 |
Q测量工作误差 |
<5% |
电感测量范围 |
15nH-8.4H?位有效数,分辨率0.1nH |
调谐电容 |
主电?0-500PF |
电感测量误差 |
<5% |
调谐电容误差和分辨率 |
1.5P戕1% |
标准测量频点 |
全波段任意频率下均可测试 |
Q合格预置范围 |
5-1000声光提示 |
谐振点搜紡/span> |
自动扫描 |
Q量程切换 |
自动/手动 |
谐振指针 |
LCD显示 |
LCD显示参数 |
F,L,C,Q,波段等 |
暂无数据