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鉴于FSM1201型傅立叶红外光谱仪是一种通用型的仪器，配置适中，是基础科研以及以及常规检测必备分析工具、span>FSM1201型样品室是标准大尺寸，可以适用多种配套附件和装置，包括ATR衰减全反射附仵span>水平衰减全反射附仵span> 漫反射附件、镜面全反射附件?/span>恒温气体样品池等，也可以实现TG-FTIR热重红外连用技术等、/span>
FSM1201型主要技术指标：
光谱范围 cm-1
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400｝span>7800
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光谱分辨玆span>＋/span>cm-1
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1
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信噪毓span> 1min 4cm-1
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>20000
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图谱采集时间 4cm-1
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1 sec
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分束器材斘span>
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KBr Ge镀屁span>
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检测器
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LiTaO3
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样品室尺寷span>，mm
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150190170
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仪器尺寸 mm
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520370250
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仪器重量 kg
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28
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FSM1201型基础科学应用案例９span>
文献资料９span>Correlations in Infrared Spectra of Nanostructures Based on Mixed Oxides
ISSN 1063-7834 Physics of the Solid State 2015 Vol. 57 No. 12 pp. 2373?381. . Pleiades Publishing Ltd. 2015.
标题：基于混合氧化物的纳米结构的红外光谱图相关性的研究
简介：采用SnO2-SiO2体系Sol-Gel溶胶—凝胶技术制造用于传感器的纳米薄膜，?span>INFRASPEK FSM 1201型傅立叶红外光谱仪及配套MNPVO36垊span>ATR衰减全反射附件测定不同组成的溶胶图谱并找出相关性（国span>1）。为解决氧化硅基底强吸收峰的背景影响，对纳米薄膜红外图谱采集通过配套皃span>PZO30镜面反射附件完成（图6）、span>
FSM1201型常规检测适用标准９/span>
ASTM D 4053?span>ASTM?span>ASTM D 5845?span>ISO 7106?span>ISO 4650?span>ISO 9622?span>ISO 13884?span>ASTM D 2124?span>ASTM D 2238?span>ASTM D 2357?span>ASTM D 2702?span>ASTM D 3124?span>ASTM D 3414?span>ASTM D 3594?span>ASTM D 3677?span>ASTM D 3900?span>ASTM D 3921?span>ASTM D 4660?span>ASTM D 5576?span>ASTM D 5594?span>ASTM D 5670?span>ASTM D 6047?span>ASTM D 6248?span>ASTM D 6342?span>SEMI MF1188?span>SEMI MF1391?span>SEMI MF951?span>SEMI MF95
部分附件描述９/span>
MNPVO36垊span>ATR衰减全反射附仵span>
用于研究液体、粉末、薄膜的化学成分。该方法大幅度简化了制样过程，适用于快速检测产品质量、span>
主要性能９span>
- 7次内部反射保证对低浓度高灵敏的测定；
-标准材料丹span>ZnSe，可以定刵span>Ge或耄span>Si：span>
-吸收层选用厚度丹span>1~50微米：span>
-光谱测量时间1~2分钟、span>
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PZO30型镜面反射附仵span>
镜面反射红外光谱法是用于研究薄膜镀层的一种理想的分析方法。无需样品预处理就可以进行表面和薄膜的无损检测并测定薄膜厚度。根据镀层厚度选用相应的镜面反射的角度，我供应附件仍span>10?span>80反射角、span>
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片状糊状样品分析附件
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液体样品分析附件
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气体样品分析附件
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暂无数据
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移动?/p>
工商已核宝/p>
