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TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杅/strong>可与原子探针、透射电镜配套使用,有效地使原子探针和透射电镜检测结合在一起,使样品的观察和分析更加方便、/span>TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杅/strong>用来夹持透射电镜样品放到透射电镜下进行观察,可以360旋转样品,透射电镜配套的样品杆往往功能单一,这款样品杆可以满足客户的多种的需要,适合大专院校及科研院所中与透射电镜配套使用。进口样品杆往往价格不菲,本公司的样品杆不仅功能齐全且结实耐用,价格也远低于进口设备的价格、/span>
产品型号 | TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杅/strong> |
主要特点 | 1(/span>TEM-APT样品杆:三维原子探针'span>3DAP)和透射电镜'span>TEM)是先进的原子尺度表征手段、/span> 2)三维原子探针的结果不是“可视”的,需要通过数据重构再现。透射电镜能提供“直接可视”的实验结果,但是结果是二维投影的,并且很难获得三维的单个原子尺度的成分信息。基于它们各自的优势,我们开发了3DAP-TEM样品杆,可以将原子探针(APT)试样直接加载到TEM样品杆上、/p> |
产品结构 | |
产品作用 | ?)在TEM中直接观察APT试样上是否有令人感兴趣的区域,使样品检测工作效率增加; ?)通过大角度倾转试样,获得不同角度试样的形貌结构特征,为3DAP数据重构提供帮助:/span> ?)TEM观察过后的试样可以直接移到APT中继续实验。将APT结果与TEM图像相结合, 助于优化重构参数,并?DAP结果更具有可信度、/span> ?)在原子水平上获得了样品的组成和结构、/span> |
产品性能 | ?(/span>接受锥形电化学抛光的样品或聚焦离子束(FIB)制备的样品柱、/span> ?(/span>允许360的图像采集和层析图像的重建,不会因楔子缺失而造成信息损失、/span> ?(/span>样品可以很容易地从支架上取出,然后直接转移到APT机上进行进一步表征、/span> ?(/span>兼容所有几何形状的极片间隙、/span> |
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