看了CMC-KUHNKE SRG-4000易拉盖刻线残余量测定仪的用户又看亅/p>
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SRG-4000 易拉盖刻线残余量测定?/p>
刻痕是易拉盖的重要部份, 刻线残留量太厚, 开罐时拉环容易断,残留量太小, 密封不安全, 出现意外被裂甚至泄漏。至今为止,采用景深显微镜的系统取决于操作人员的技术程度, 它们用一?/p>
外加的显示屏和测微计对刻线槽进行聚焦。由于不同的操作人员会对刻线不同地方聚焦,从而使得测量结果可重复性差 通常会有明显的误差、/p>
QBYV的易拉盖刻线检测仪 采用创新的方法, 结合切边光学、激光技术及先进的软件处理, 减少测量过程中人为的影晌。该系统有效地改进了检测结果的可重复性, 系统直接与电脑联接,不需要任何外围设备如解码器、外设显示屏 因而大大减少了成本和维修费用、/p>
优势
采用激光聚焦技?/p>
适用全部易拉盖型
可测量易拉盖的铆钉直径和厚度
应用
饮料易拉盖刻痕残余尺寸测野/p>
食品易拉盖刻痕残余尺寸测野/p>
技术参?/span>
电源?00-240VAC 50-60Hz | 精度?#177;0.001 mm |
分辨率:0.001mm | 重复性:0.001 mm |
暂无数据