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PAN式低温扫描探针显微镜系统
Pan式低温扫描探针显微镜析系统是由美国RHK Technology公司制造的,主要特点包括: - PAN STM/AFM扫描头体积极小(2.96”X1.55? - 集成了样品X-Y-Z方向的大范围移动?mmX5mmX10mm(/p> - 工作温度包括了低?00mK、RT、VT和HT多种范围 - 内置弹簧和涡流阻尼减震系统,原位针尖与样品更捡/p> - 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁佒/p> - 与RHK**全数字R9控制器一同使?/p> 适用于拓扑绝缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中、/p> |
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主要技术参? - 工作模式:STM与非接触式AFM - 温度范围9300mK; RT; VT; HT - X-Y-Z位移范围?mmX5mmX10mm |
- 扫描范围?umX5um (RT(/p> - 样品尺寸?0mmX10mm - 扫描头尺寸:40mmX70mm |
结构紧凑,体积极小: 内置减震系统、可水平或垂直放 Pan式低温扫描探针显微镜结构极其紧凑,核心部分尺寸在~40X70mm左右;内置有弹簧和涡流阻尼减震系统;根据用户的要求,可以提供水平放置配置和垂直放置配置两种;初次之外,它兼容常用的低温恒温器和磁体,并提供相应的集成方案、/p> |
原位样品与探针更捡/strong>9/strong> 操做简单、快速;性能可靠 在低温和超高真空环境中,样品和针尖的原位更换一直是使用者非常关心的问题。为此,RHK公司为Pan式低温扫描探针显微镜开放了一套性能可靠、操作简单快速的原位样品与针尖更换装置,并提供了多个样品与针尖的放置室、/p> Pan式低温扫描探针显微镜中使用的样品架灵活多样,可充分满足各种实验要求,如原位加热、样品剥离、样品轰击等等;同时,它还兼容其他的商业化扫描探针显微镜中所配备的样品架、/p> |
兼容各种磁体和恒温器 为充分满足科学家的要求,RHK与尖端磁体和恒温器制造商紧密合作,开发了低温扫描探针显微镜整机系统和独立扫描头模块系统,根据用户的特殊要求提供了一整套的解决方案 RHK公司将世界上***的全数字扫描探针显微镜控制器R9集成到Pan式扫描探针显微镜中,集中研发力量,推出了噪音极低的R9扫描控制系统和IVP-R9前置放大器、/p> |
应用案例9/strong> | |
Si(111)表面7X7重构?K |
Bi2Se3表面形貌?K |
部分用户名单9/strong> | |
- University Of Texas - University of Maryland - University of Chicago - Columbia University - Technischen Universitat Berlin - Academica Sinica (2) - Georgia Institute of Technology - Weizmann Institute of Science - Indian Association for the Cultivation of Science ...... |
PAN式低温扫描探针显微镜介绍与技术参数(1M(/p> |
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