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芬兰SPECIM工业高光谱相机FX系列
超小型,超快?超值的新型高光谱相朹/span>
特为工业机器视觉领域设计研发
FX10 被德国inVISION杂志评为2017机器视觉**创新奕/span>
芬兰SPECIM是世界上*早提供商用高光谱分光器的制造商,至今已有二十余年高光谱产品的生产历史。如今高光谱产品线包括航空机载、室内实验室和室外地面系列等,光谱范围覆盖紫外、可见光近红外、短波红外、中波红外和热红外(UV、VNIR、SWIR、MWIR、LWIR)等波段、/p> 随着世界高新技术的发展,芬兰SPECIM也不断向前迈进?016年,芬兰SPECIM针对蓬勃发展的工业机器视觉领域,发布新型高光谱相机——FX10/17?019年,芬兰SPECIM继续推出SPECIM FX50?*了工业机器视觉领域的**变革、/span> |
工业应用需要设备具有高速、强大和稳定的性能,并且易于安装和维护,同时具有高效的****。芬兰SPECIM的FX系列高光谱相机具有灵活波段选择功能,成像速度可高?5000Hz;同系列的产品经过相同标定,随意替换,数据一致;重量仅为1.7Kg,大小为150 x 85 x 75 mm,仅是一个手掌的大小;拥有GigE Vision 和CameraLink两种接口选择,配置软件开发包,满足用户的多样需求。因此,芬兰SPECIM的FX系列高光谱相机是工业机器视觉应用领域?*选择、/span>
优越的数?/strong> 对所有的工业实时应用的领域来说,线阵推扫式的成像方式是高速获得稳定的数据?*适合的技术。芬兰SPECIM的FX系列高光谱产品正是采用的线阵推扫的成像方式,在具有高速成像的同时,同一时间获得目标区域的所有光谱信息数据,保证每一个空间像素的光谱纯洁度。为客户提供更加真实准确的高光谱数据、/span> |
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超高感光 芬兰SPECIM的FX系列高光谱相机采用高透光率的光学设计(F/1.7),把相机的聚光能力提升到了一个崭新的标准,并且只需要一个线光源就可满足设备需求。但是其他分光技术(可调滤光片和线性滤光片等),在获得数据具有相同的信噪比的情况下,需要更大面积的光源和数十倍的光源强度、/span> |
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方便更新替换 芬兰SPECIM的FX系列高光谱相机是**个经过实验室统一波长标定的商用高光谱成像设备,因此同系列每台设备可产生相同的数据。这样就可以方便安装和替换,无需返厂再次标定。标定后的图像数据即可实时处理也?*应用于后期的数据处理、/span> |
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高?灵活 得益于强大的多个感兴趣波段的选择功能,芬兰SPECIM的FX系列高光谱相机在可以满足许多不同应用的需求同时,还可以具?***的高速数据采集速度?快可?5000Hz)、/span> |
SPECIM FX系列产品
SPECIM FX50(NEW!!!(/em> SPECIM FX50高光谱相机是芬兰SPECIM公司?019年推出的**产品,具有成像速度高、数据准确、性能稳定等特性,是一款专为工业机器视觉开发设计的高光谱相机。FX50光谱范围?.7 - 5.3 m MWIR ),对于黑色塑料分选、金属表面污染物检测、矿物分?地质勘探等工业应用具有独特的效果、/span> |
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性能特点 ? 设计精致,外形紧凐/span> ? 光谱范围?.7 - 5.3m ? 高分辨率?40个像紟/span> ? 高采集速度?80 Hz ? 光学部件:恒?/span> ? 内置图像校正 ? 数据一致性:出厂前经过统一光谱校准 ? GigE Vision标准接口 ? 易于安装固定 |
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光谱响应 SPECIM FX50高光谱相机光谱范围为2.7 - 5.3m,采集不同材质的黑色塑料?.7-5.3um光谱范围内丰富的光谱信息,以快速、可靠地识别不同材质的黑色塑料,如ABS PP PE PC PS PVC、HIPS |
SPECIM FX10 光谱范围:VNIR(900 1700 nm) 光谱波段?24 光谱分辨率:5.5 nm 狭缝宽度?0 m 空间像素数:1024 像素大小?x8m 成像速度:全谱段采集?30 Hz ROI波段选择后可 9900 Hz |
SPECIM FX17 光谱范围:NIR(900 1700 nm) 光谱波段?24 光谱分辨率:8 nm 狭缝宽度?0 m 空间像素数:640 像素大小?5x15m 成像速度:全谱段采集?70 Hz ROI波段选择后可 15000 Hz |
应用领域
SPECIM FX50可应用于黑色塑料分选、金属制造行业、地质勘?矿物分选、其他分选行?.....
黑色塑料分选行业(!!(/strong>? 全球**一款光谱范围为2.7-5.3m的工业高光谱相机 ? 可检测:ABS,PP,PE,PC,PS,HIPS等黑色塑斘/p> ? 可检测塑料中的Br型阻燃剂 ? 空间分辨率高,可检测塑料碎牆/span> |
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金属制造行丙/strong> ? FX50可检测金属表面的杂质、污垢、油及其他有机残留物,很大限度上减少原材料的浪费、/p> ? FX50可用于温度测量:测量温度范围?-1000℃,以优化制造工艺、/span> |
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地质勘探/矿物分逈/strong> ? FX50 可分选出SWIR相机无法分选的矿物质, 例如:长石和石英 ? FX50 可替代热红外相机(OWL),成为识别矿物更经济有效的选择 ? FX50 既可用于在线生产检测,又可用于SisuROCK 岩心扫描 |
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其他分选行丙/strong>
? 在分?色选行业, FX50 高光谱相机成为突破性的可行性方桇/span>
? FX50 有效地解决分?色选行业面临的难题。如,FX50可有效分选木材和纸制?/span>
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