聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d

日本ADVANCE RIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列在全球销售量超过300台，广获全球科研及工业用户的赞誉，成为热电材料领域应用广泛的测试设备�?019年，在此前的成功基础上，ADVANCE RIKO公司推出了专门用于评件�strong>聚合物厚度方吐�/strong>上热电性能的全新设备ZEM-d、�/span>

与之前ZEM系列产品（ZEM-3/ZEM-5）不同，新型号ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品*薄为10��m。此外，ZEM-d与采�?/span>激光闪光法测量薄膜的热扩散�?导热系数测量方向一致，其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价、�/span>

ZEM-d测量原理

现存测试方法

ZEM-d（厚度方向测量）

电阻率测量原琅�/span>

塞贝克系数测量原琅�/span>

ZEM-d技术参�?/strong>

测量参数 塞贝克系数，电阻玆�/span>

温度范围 **200℃（样品表面（�/span>

样品尺寸 截面�?#934;20mm（Max），长度�?.01-20mm

测量氛围 空气或惰性气佒�/span>

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