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Sphere-3000光学元件反射率测量仪,能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/**反射率,适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量,还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量、/p>
仪器特点9/strong>
CIE颜色测定 X Y色度图,x,y,L,a,b,饱和度,主波长等;
显微测定微小区域的反射率,物镜对焦于被测物微小区域(60m);
消除背面反射光,无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率;
技术参数:
SPHERE-3000(II型) | SPHERE-3000(III型) | SPHERE-3000-NIR | |
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探测?/span> | Hamamatsu背照?D-CCD | Hamamatsu背照?D-CCD(制冷) | Hamamatsu InGaAs探测?制冷) |
检测范図/span> | 380~1100nm | 380~1100nm | 900~1700nm |
波长分辨玆/span> | 1nm | 1nm | 3nm |
信噪毓/span> | 450:1 | 1000:1 | 10000:1 |
相对检测误?/span> | ?.75% | ?.5% | ?.5% |
被测物再现?/span> | 0.1%以下(380nm~410nm) 0.05%以下(410nm~900nm) |
0.1%以下(380nm~400nm) 0.05%以下(400nm~900nm) |
0.1%以下 ?000~1650nm(/span> |
测定方法 | 与标准物比较测定 | ||
单次测量时间 | ?s | ||
精度 | 0.3nm | ||
被测物N.A | 0.12(使用10对物镜时) 0.24(使用20对物镜时) | ||
被测物尺寷/span> | 直径>1mm 厚度>1mm(使用10对物镜时) 厚度>0.5mm(使用20对物镜时)厚度>0.1mm(使用50对物镜时) |
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被测物测定范図/span> | ?#966;100um(使用10对物镜时) ?#966;60um(使用20对物镜时) ?#966;30um(使用50对物镜时) |
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设备重量 | ?2kg(光源外置) | ||
设备尺寸 | 300(W)550(D)570(H)mm | ||
使用环境 | 水平且无振动的场所;温度:235℃;湿度?0%以下、无结露:/span> | ||
操作系统 | Windows7~Windows10 | ||
软件 | 分光反射率、物体颜色、单层膜?有干涉条?和镀?有干涉条?折射率测宙/span> |
暂无数据