看了透射电子显微镜原?原子尺度双倾热电耦合系统的用户又看了
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INSTEMS系列为用户提供了7种原位TEM实验平台。其中包含三种单外场施加平台,三种双外场耦合平台和一种三外场耦合平台。三种单外场产品为INSTEMS-M(力学加载)、INSTEMS-E(电学加载)和INSTEMS-T(热场加载);三种双外场耦合产品为INSTEMS-ME(力电耦合)、INSTEMS-TE(热电耦合)和INSTEMS-MT(力热耦合);一种三外场耦合产品为INSTEMS-MET(力热电耦合)、/p>
产品介绍9/span>
INSTEMS-TE可以实现多种模式的电学施加和高精度的电学测量。在此基础上,通过选择单一热源或相互独立的双热源模式,可实现均匀热场或梯度热场的施加。这一独特优势使该产品不仅满足传统热学和电学领域,也满足热电领域的研究需求、/p>
突出优势9/span>
1?/span>多种力学加载模式
拉伸/压缩/压痕/弯曲/冲击/蠕变/疲劳
自动/手动/循环加载
牛顿级驱动器(> 100 mN)
pm级驱动控刵/span>
2?/span>多种力学加载模式
拉伸/压缩/压痕/弯曲/冲击/蠕变/疲劳
自动/手动/循环加载
牛顿级驱动器(> 100 mN)
pm级驱动控刵/p>
3、双轴倾转
轴倾转**?#177;20
轴倾转**?#177;10
4、稳定的原子尺度成像
极限样品漂移?0 pm/s
空间分辨率≤0.1 nm
技术指标:
加热范围 |
RT up to 800 ℂ/strong> |
加热准确?/p> |
?8% |
加热速率 |
>10000 C/s |
**电压 |
30 V |
电流测量范围 |
1 pA-1 A |
空间分辨玆/p> |
?.1 nm |
EDS兼容?/p> |
∙/p> |
应用领域9/span>
热电材料
半导佒/span>
相变存储
电池可靠?/span>
失效分析
介电材料
…?/span>
暂无数据