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北京样本
暂无看了透射电子显微镜原?原子尺度双倾力学测试系统的用户又看亅/p>
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INSTEMS系列为用户提供了7种原位TEM实验平台。其中包含三种单外场施加平台,三种双外场耦合平台和一种三外场耦合平台。三种单外场产品为INSTEMS-M(力学加载)、INSTEMS-E(电学加载)和INSTEMS-T(热场加载);三种双外场耦合产品为INSTEMS-ME(力电耦合)、INSTEMS-TE(热电耦合)和INSTEMS-MT(力热耦合);一种三外场耦合产品为INSTEMS-MET(力热电耦合)、/p>
产品介绍9/strong>
BST-INSTEMS-M使用的MEMS集合精密的芯片结构与压电驱动器,力学加载方向与双倾台平面平行。高精度力学驱动?.1nm等级驱动)与双倾系统互不干扰,能在力学加载的同时稳定的观察高质量原子尺寸的像。另外,可根据客户需求配置不同结构的芯片,满足不同尺寸形状不同加载模式力学实验要求、/p>
突出优势9/strong>
1、多种力学加载模式:
拉伸/压缩/压痕/弯曲/冲击/蠕变/疲劳
自动/手动/循环加载
牛顿级驱动器(> 100 mN)
pm级驱动控
2、双轴倾转9/p>
轴倾转**?#177;20
轴倾转**?#177;10
3、稳定的原子尺度成像9/p>
极限样品漂移?0 pm/s
空间分辨率≤0.1 nm
技术指栆/strong>
**驱动劚/p> | > 100 mN |
**驱动范围 | 4 m |
驱动精度 | < 500 pm |
空间分辨玆/p> | ?.1 nm |
应用领域
高强钡/p>
纳米
高强铝合
钛合釐/p>
纳米薄膜
…?/p>
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