产品详情

日本JEOL场发射透射电子显微镜JEM-F200

以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验、�/span>

产品规格９�/strong>

超高分辨极靴	高分辨极靳�/span>
分辨玆�/span>
TEM点分辨率	0.19 nm	0.23 nm
STEM-HAADF 僎�/span>	0.14 nm @冷场�?/span>	0.16 nm @冷场�?/span>
	0.16 nm @热场�?/span>	0.16 nm @热场�?/span>
加速电厊�/span>	200 � 80 kV	200 � 80 kV
主要选配仵�/span>	能谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪（EELS）、CCD相机、TEM/STEM断层扫描系统

产品特点９�/strong>

�� 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验、�/span>

外观设计精炼

�� 精炼的外型，全新的视觉感受、�/p>

为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便、�/p>

JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高、�/span>

四级聚光镜系绞�/strong>

�� 现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技�?-- 从明�?暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术� 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求、�/span>

高端扫描系统

�� JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System� 即成像系统的电子束扫描功能（选配）、�/span>

皮米样品台驱�?/strong>

�� JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视�?从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行、�/span>

SpecPorter（自动插入和拔出样品杆的装置（�/strong>

�� 插入和拔出样品杆，对电镜初学者来说一直是高难度的操作� JEM-F200配备的SpecPorter，即使新手也能轻松掌握，将样品杆安装在指定的位置上，只用一个按钮即能安全地插入或拔出、�/span>

改进的冷场发射电子枪

�� JEM-F200能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪（选配），该枪的利用可以进行EELS化学结合状态分析，高亮度的电子束缩短了分析时间，并且还降低了来自光源的色差，实现了高分辨率的观察、�/span>

双能谱（SDD（�/strong>

�� JEM-F200能同时安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器（SDD）（选配件）� 凭借更高的灵敏度，EDS分析速度更快，对样品的损伤更小、�/span>

环保节能

�� JEM-F200�?*个标配了ECO模式的透射电子显微镜。ECO模式系统能将能源消耗降低到正常模式时的1/5，可以在装置不运行时，以*小的能耗保持着电镜�?*条件。该设备具有排程功能，能在指定的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态、�/span>