产品详情

日本JEOL软X射线分析谱仪SXES

软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率� 和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率、�/span>

产品规格９�/span>

��产品规格

�� 能量分辨�?.3eV（Al-L 光谱�?3eV处测试）

�� 获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能�?0-170eV

�� 获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能�?0-210eV

�� 分光谱仪艙安装位置：

�� EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右侧）

�� FE-SEM的WDS接口（正面左后侧（�/span>

�� 分光谱仪尺寸　W 168mm��D 348mm ��H 683mm

�� * 从接口包括CCD的距禺�/span>

�� 分光谱仪重量　25kg

�� 适用机型

�� EPMA � JXA-8530F� JXA-8230� JXA-8500F� JXA-8200

�� SEM � JSM-7800F� JSM-7800 Prime� JSM-7100F

产品特点９�/span>

�� 软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率、�/p>

和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率、�/span>

��

�� 系统简今�/span>

�� **开发设计的分光系统，不需移动衍射光栅或检测器（CCD）就能同时获取不同能量的谱图。而且由于能量分辨率很高，还可以采集状态分析分布图

��

�� SXES、WDS、EDS的比辂�/span>

�� 各种分光方法中氮化钛样品的谱国�/span>

�� 即使在WDS分析中氮化钛的谱峰也發生重叠，需要采取去卷积的数学方法处理。如下图所示，SXES具有很高的能量分辨率、�/span>

��

��

��比较�?/strong>

锂离子二次电池（LIB）分析实侊�/span>

�� 能观察到LIB的充电量

��

��

�� 充满电后Li-K样品的谱国�/span>

��

��

说明: 由于理论上的原因，氧化锂的检测很困难

��轻元素的测试实例

�� SXES测试碳素化合物的实例

�� 可以测试金刚石、石墨、聚合物的不同、�/span>

��

�� 各种氮素化合物的测试实例

�� 氮素也可以根据波形分析化学结合状态� 硝酸盐和氮化物的波形完全不同，还能观察到易受电子束损伤的铵盐的独特波形、�/span>

��