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ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的*终生产过程中的质量保证都是必不可少的、/p>
HANWA是EOS/ESD标准委员会的成员，积极参与制定国际标准、/p>
汉瓦是日?*的ESD测试仪制造商，并在世界范围内提供产品和服务、/p>
Hanwa CDM测试朹/span>
l符合JEDEC、ESDA、JEITA，AEC，EIAJ），
l可快速转换不同标准的测试
l台式尺寸，紧凑，准确可靠的CDM测试仪、/span>
l配备的CCD摄像朹/span>
l提供FI-CDM和D-CDM模式、/span>
l可以测量每个引脚的电容、/span>
尺寸：W575 x D400 x H300 Weight 35Kg Compact Desktop Size
符合所有主要国际标准：
Standard |
StandardNumber |
Method |
Calibrationtool |
|
1 |
ESDA/JEDEC JointStandard |
ANSI/ESDA/JEDECJS-002-2014 |
FI-CDM |
Small/Largecoin(disk) |
2 |
JEDEC |
JESD22-C101F |
FI-CDM |
Small/Largecoin(disk) |
3 |
ESDA |
ANSI/ESDS5.3.1-2009 |
FI-CDMorD-CDM |
FI-CDM:4pF/30pFmodule(*1) D-CDM:4pF/30pFmodule(*2) |
4 |
AEC |
AEC-Q100-011Rev-C1 |
FI-CDMorD-CDM |
FI-CDM:4pF/30pFmodule(*1) D-CDM:4pF/30pFmodule(*2) |
5 |
JEITA |
JEITAED-4701/302 (Method305C) |
D-CDM |
Small/Largecoin(disk) + FR-4board |
暂无数据
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