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我们的布鲁斯特角样品架允许使用透射光谱法在不同角度测量薄膜。这些测量用于从产生的干涉条纹中提取薄膜厚度和折射率数据、/p>
布儒斯特角样品架还消除了通常遮蔽弱吸收带的干涉条纹。当与偏振器一起使用且位于布鲁斯特角时，p-偏振光通过反射*小的表面传输、/p>
特征
以布鲁斯特角或FT-IR或UV-VIS光谱仪所需的任何其他角度安装薄膜、/p>
精确设置和读取入射角的刻度盘、/p>
可选安装在紫外可见光谱仪上、/p>
与Harrick Scientific的高效线栅偏振器和Glan Taylor偏振器兼容、/p>
包括
布鲁斯特角样品架、/p>
一个样品支架、/p>
滑板安装、/p>
暂无数据
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