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对于要求苛刻的应用,或者分析时间或样品通量为关键的情况下,理学提供新型NEX QC+光谱仪。使用新一代硅探测器技术,增强皃/span>NEX QC+在元素峰分辨率和计数统计中提供显著改善,从而为**挑战性的测量提供高级校正和测量精度、/span>
理学公司推出的新型的NEX QC+为常规的质量管理应用程序做了特别的设计。新垊/span>NEX QC+设计了一个操作简便且直观皃/span>‛/span>图标驱动“/span>触屏界面,此外,仪器中内置打印机便于使用、/span>
50kV皃/span>X射线管和Peltier冷却半导体检测器提供特殊的短期重复性和长期重复性。该电压**可达50kV,与多个自动X射线管滤光片结合,提供了广泛的应用程序的多功能性和低限制的检测(LOD)、/span>
选购附件包括FP法、自动样品转换器、旋转样品台和氦气净化器(增强轻元素的灵敏度)、/span>主要特点
非破坏性分析元紟/span>11Na?/span>92U
适用于固体、液体、合金、粉末和薄膜样品
50kV 皃/span>X射线管可分析广泛的元素范図/span>
半导体检测器可获得优质数?/span>
现代智能手机样式皃/span>‛/span>图标驱动“/span>用户界面
多个自动X射线管滤光片可增强灵敏度
内置热敏打印机便于使?/span>
性价比高
选购附件FP泔/span>
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