产品概述

MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层� 软件包含大量材料�?超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy� Tauc-Lorentz� Cody-Lorentz� EMA等、�/span>

大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶�?，半导体化合�?AlGaAs� InGaAs，CdTe� CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石�?，聚合物涂层(聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)、�/span>

测量范围: 1 nm -800um

波长范围: 200 nm -1700 nm

光斑直径�?00um-4um

适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层� 软件包含大量材料�?超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy� Tauc-Lorentz� Cody-Lorentz� EMA等、�/span>

测量指标：薄膜厚度，光学常数

界面友好强大: 一键式测量和分析、�/span>

实用的工具：曲线拟合和灵敏度分析，背景和变形校正，连接层和材料，多样品测量，动态测量和产线批量处理、�/span>

测量100nm二氧化硅薄膜�?0um光斑直径，波长范围：200-1000nm９�/span>