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德国样本
暂无看了德国林赛斯薄膜物性分析仪(导热、赛贝克、霍?#823?)的用户又看亅/p>
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物理特性薄膜表征系绞/span>+/span>高度集成且易于使用的测量平台、/span>
薄膜的物理性质不同于大块材料,因为由于尺寸较小和高纵横毓/span>使寄生表面效应更弹/span>?/span>
增强表面散射的影响(a(/span>
附加边界散射'/span>b(/span>
超薄层的量子约束'/span>c(/p>
LINSEIS薄膜物?/span>分析?/span>?/span>表征各种薄膜样品优异测量工具。它是一种易于使用的独立系统,使用正在申?*的测野/span>系统设计+/span>可提供高质量的结果、/span>
组件
基本设置包括一个可以轻松沉积样品的测量芯片,以及提供所需环境条件的测量室、/span>根据应用,该设置可与锁定放大器和/或强电磁铁一起使用 测量通常在UHV下进行,并且在测量期间使用LN2和强力加热器将样品温度控制在-170C?80C之间、/span>
预制测量芯片
该芯片将用于热导率测量的3技?/span>与用于测量电阻率和霍尔系数的4炸/span>Van-der-Pauw技?/span>相结合、/span>赚/span>贝克系数可以使用位于Van-der-Pauw电极附近的附加电阻温度计来测量 为了便于样品制备,可以使用剥离箔掩模或金属阴影掩模 该配置允许几乎同时表征通过PVD(例如热蒸发,溅射,MBE),CVD(例如ALD),旋涂,滴铸或喷墨打印制备的样?/span>、/span>
该系统的一大优点是在一次测量运行中同时确定各种物理特性、span>所有测量都采用相同(平面内)方向,并且具有很高的可比性、/span>
基本测量单元 9/span>
测量室,真空泵,带加热器的支架,电子颊侧装置,集成锁相放大器+/span>3w方法分析软件,计算机和应用软件。可测以下物理参数:
? -热传导系?/span> (稳态法/平面内方?
? - 电阻玆/span>
? - 电导玆/span>
? S - 赛贝克系?/span>
? 发射玆/span>
? Cp - 比热宸/span>
磁测量单兂/span>
可根据需求选择集成式电磁铁,可测物理参数如下:
? AH - 霍尔常数
? –迁移率
? n -载流子浓?/span>
薄膜材料性能有别于块体材料之夃/span>
- 因小尺寸和高纵横比所导致的表面效应如:边界散射和量子限域效应
*价格范围仅供参考,实际价格与配置等若干因素有关。如有需要,请拨打电话咨询(021-50550642?10-62237791)。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案、/span>
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