ContourGT-I三维光学显微镛�/span>

全球首创的扫描头倾斜自动样品台桌面型测量系统

ContourGT-I三维光学显微镜集三十年表面测量之大成，将创新与工业界合作的经验集合到一台桌面型系统上，实现面向生产自动化需要，测量角度灵活，优秀的成像质量，和已经验证的可定标的稳定测试性能。通过布鲁克独有的扫描头倾斜技术，该系统可解决倾斜样品台测试时引起的样品位置变化，从而轻松实现在一定角度内自动倾斜对表面特征进行测量�?*一代的Vision64?软件结合改进的样品台设计进一步提高了使用的方便性，更有效地提高用户的测试效率、�/span>ContourGT-I可立刻测试各种样品，在桌面型系统上实现了以往从未有过的各种特性、�/span>

实现更快，更简便测野�/span>

?自动光学倾斜测量夳�/span>

?全自�?/span>X，Y� Z样品�?/span>

?自动光镜转塔，放大镜，和测试光选择

更灵活而稳定的防震

?集成式充气式防震�?/span>

?高稳定度，空间节�?/span>

更强大的测量和分枏�/span>

?简单明了，人性化的工作流稊�/span>

?实时自动优化测量

?完整的数据分析软件包

?可定制的分析报告

测量高效

布鲁克独有的倾斜测量头为用户提供了极大的灵活性，实现快速测量和观察。通过在在显微镜头中结合头部倾斜功能，布鲁克这一技术实现了将观察位置始终保持在焦平面处，为用户实际使用时带来了很大便利、�/span>

准确追踪和使用的简便性对于在不同表面上快速检测是至关重要的，这样在批量测试时速度也大大提高、�/span>

台阶高度准确�?/span>

这一特点结合样品台与物镜的电动控制使徖�/span>Contour GT-I成为了具有较小占地却能同时满足多种测试要求的测量平台、�/span>

业界*方便灵活的测量方弎�/span>

除上述优点外＋�/span>ContourGT-I通过独有的设计直接在机台上集成防震系统，使其直接满足各种环境条件，包括工厂，实现迅速准确地测量�

这一经过严格测试的防震系统为用户提供不折不扣

的优化测试条件，从而得到重复�?*的定量数据、�/span>

布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辐�/p>

Bruker Nano Surfaces YouKu Channel� 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看**的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中�?/p>

布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces

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