看了美国AST光谱反射薄膜分析仪SR300的用户又看了
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产品简介:
SR系列薄膜分析产品来自美国AST(Angstrom Sun)公司,其可以实现薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的测量,同样对于材料NK参数也可以实现测量,为人们针对薄膜进行分析提供了极大便利、/span>
特点9/span>
易于安装
容易操作的基于视窗结构的软件
先进的光学设计,以确保能发挥?*的系统性能
基于阵列设计的探测器系统,以确保快速测野/span>
独特的光源设计,有着较好的光源强度稳定?/span>
有四种方法来调整光的强度9/span>
通过电源的调节旋钮来调节电源输出的大導/span>
在光输出端口滤光槽内调整滤光片来调整
调整光束大小
通过TFProbe软件,在探测器里调整积分时间
*多可测量5层的薄膜厚度和折射率
在毫秒的时间内,可以获得反射率、传输率和吸收光谱等一些参?/span>
能够用于实时或在线的厚度、折射率测量
系统配备大量的光学常数数据及数据庒/span>
对于每个被测薄膜样品,用户可以利用先进的软件功能选择使用NK数据库、也可以进行色散或者复合模型(EMA)测量分析;
可升级至MSP(显微分光光度计)系统,SRM成像系统,多通道分析系统,大点测量、/span>
通过模式和特性结构直接测量、/span>
提供的各种配件可用于特殊结构的测量,例如通过曲线表面进行纵长测量、/span>
2D?D的图形输出和友好的用户数据管理界面、/span>
系统配置9/span>
型号:SR300
探测器: 2048像素的CCD线阵刖/span>
光源:高稳定性、长寿命的卤素灯
光传送方式:光纤
台架平台:特殊处理铝合金,能够很容易的调节样品重量?00mmx200mm的大導/span>
软件TFProbe 2.2版本的软仵/span>
通讯接口:USB的通讯接口与计算机相连
测量类型:薄膜厚度,反射光谱,折射率
电脑硬件要求:P3以上??0 MB的空闳/span>
电源?10?40V AC/50-60Hz?.5A
保修:一年的整机及零备件保修
选项
?1用于传递和吸收测量的传动夹?SR300RT) )
2.*低可测量直径?m(MSP300)
3. 在多个位置下,多个通道用于同时测量(SR300xX)
4. 在超?00?00毫米晶片上所进行的统一测绘(SRM300-300/200(/span>
规格
波长范围?00?100 nm
光斑尺寸?00m?mm
样品尺寸?00mmx200mm或直径为200mm
基板尺寸?多可?0毫米厙/span>
测量厚度范围?0nm?0m
测量时间??毫秒
精确度:优于0.5%(通过使用相同的光学常数,让椭偏仪的结果与热氧化物样品相比较)
重复性误差:小于1?
应用:
?半导体制造(PR+/span>Oxide Nitride..)
?液晶显示'/span>ITO+/span>PR+/span>cell gap... ..(/span>
?医学,生物薄膜及材料领域筈/span>
?油墨,矿物学,颜料,墨粉
?医药,中间设夆/span>
?光学涂层+/span>TiO2 SiO2 Ta2O5... ..
?半导体化合物
??/span>MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膛/span>
?非晶体,纳米材料和结晶硅
………?/p>
相关薄膜物性分枏/span>产品应用及产品技术问题,
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薄膜物性分枏/span>仪器系列(膜厚,光学参数+span>反射谱及颜色,膜面阻,等(/span>
膜厚,光学参数:
SR100 薄膜分析?/p>
SR300 薄膜分析?/p>
SR500 薄膜分析?/p>
SE200BA 椭偏薄膜分析?/p>
SE200BM 椭偏薄膜分析?/p>
SE200-MSP 椭偏薄膜分析?/p>
SE300BM 椭偏薄膜分析?/p>
SE500BA 椭偏薄膜分析?/p>
MSP100 薄膜分析?/p>
MSP300 薄膜分析?/p>
MSP500 薄膜分析?/p>
uRaman TechnoSpex-拉曼光谱仪及模块
膜面阻:
EddyCus?-TF lab 2020?/p>
EddyCus?-TF lab 4040?/p>
EddyCus?-TF map 2020SR?/p>
EddyCus?-TF map Hybrid ?/p>
EddyCus?-TF inline?/p>
EddyCus?-TF lab Hybrid
定制垊/p>
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