您可以将inVia拉曼的能力与扫描探针显微镜（SPM咋�/span>AFM）联用，在纳米尺度上研究材料的组成、结构和特性、�/span>

联用系统优势９�/span>

1. 原位测量。无需在不同仪器之间移动样品，节约时间，保证正确的分析区域、�/span>

2. inVia咋�span>SPM/AFM可同时作为独立系统使用，而不会影响两者的任何性能、�/span>

3. 得到丰富的样品信息。使�?span>AFM记录样品的形貌及相关物理特性。增加拉曼分析样品化学信息的能力，以识别材料和非金属化合物、�/span>

4. 可实现针尖增强拉曼测量（TERS），获得纳米尺度的化学信息、�/span>

选择**的系统：

雷尼绍特殊设计的灵活的耦合臂可以用于将inVia不�/span>SPM戕�/span>AFM光学整合、�/span>inVia具有极大的灵活性，能够将其直接耦合到如下供应商的各秌�/span>AFM咋�/span>SPM上：

• Bruker Nano Surfaces

• Nanonics

• NT-MDT

• JPK

• Park