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日本样本
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可用于高密度封装基板和BGA、CSP、系统LSI等键和情况的高倍率非破坏透视检查,特别适合于IC封装检查、元器件生产和PCBA等产品。另外,SM-1000L适合于检查大尺寸基板和连续检查大量零部件、/p>
技术参数:
SMX-1000 |
SM-1000L |
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焦点尺寸 |
5m |
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载物台尺寷/p> |
350X400mm |
570X670mm |
可搭载重野/p> |
5Kg |
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**电压 |
90kv |
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输入电压 |
AC100V1KVA |
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主机重量 |
?00kg |
?50kg |
主要特点9/strong>
SMX-1000/1000L是操作简便灵敏实用的多功能小型X-ray检测设备,采用了FPD(数字式平板检测器)和密封式微焦X-射线管的组合结构,可以观察到没有变形和重影且清晰的图像。另外,新开发的应用软件可以对样品根据检查需要的进行条件设定,使操作更为简便,从而大大提高检查效率。各种完备的功能使操作更加简便、/p>
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