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产品名称９span>介电常数测试?/span>
产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37
符合标准：GB/T1409、GB/T5594
产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测诔/span>
适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料筈/span>
测试范围９span>10KHZ-70MHZ?00KHZ-160MHZ
主要配置：主机Q表、夹具、电感组戏/span>
测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切倻/span>
使用人群：科研所、教学、质量监督局?*单位筈/span>
付款方式：全款发?/span>
产品品牌：纵横金鼍/span>
产品货期?-3个工作日
产品类别：电性能检测仪?/span>
ASTMD150-11
实心电绝缘材料的交流损耗特性和
电容率（介电常数）的标准试验方法1
本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改、/p>
本标准经批准用于国防部所有机构、/p>
1.介电常数测试?/span>范围
1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小?Hz到几百兆赫兹、/span>
?：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值、/span>
1.2 这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件、sup>2?
1.3 本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1?0.2.1、/span>
1 本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖，并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理、/span>
当前版本核准?011??日?011?月发行。原版本?922年批准。前一较新版本?004年批准，即为 D150-98R04。DOI?0.1520/D0150-11、/span>
2 R. Bartnikas ?章， “交流电损耗和电容率测量， 工程电介质， Vol. IIB 实心绝缘材料的电学性能 测量技术， R. Bartnikas Editor STP 926，ASTM Philadelphia 1987.
3 R. Bartnikas ?章， “固体电介质损耗， 工程电介质，Vol IIA 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为， R. Bartnikas and R. M. Eichorn Editors STP 783 ASTM Philadelphia 1983.
2.介电常数测试?/span>引用文件2.1 ASTM标准９sup>4
D374 固体电绝缘材料厚度的标准试验方法
D618 试验用塑料调节规稊/span>
D1082 云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法
D1531 用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方泔/span>
D1711 电绝缘相关术?/span>
D5032 用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程
E104 用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规稊/span>
E197 室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程（1981年取消）5
3.介电常数测试?/span>术语
3.1 定义９/span>
3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711、/span>
3.2 本标准专用术语定义：
3.2.1 电容，C，名词——当导体之间存在电势差时，导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能、/span>
3.2.1.1 讨论——电容是指电流电 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位，电位采用伏特为单位时，电容单位为法拉，即９/span>
C=q/V ?（/span>
3.2.2 耗散因子（D），（损耗角正切），（tan），名词——是指损耗指数（K''）与相对电容率（K'）之间的比值，它还等于其损耗角?#948;）的正切值或者其相位角（）的余切值（见图1和图2）、/span>
D=K''/K' (2)
4 相关ASTM标准，可浏览ASTM网站，或与ASTM客服service@********联系。ASTM标准手册卷次信息，可参见ASTM网站标准文件汇总、/span>
5 该历史标准的较后批准版本参考网站、/span>
3.2.2.1 讨论——a９/span>
D=tan=cot=Xp/Rp=G/Cp=1/CpRp (3)
式中９/span>
G=等效交流电导＋/span>
Xp=并联电抗＋/span>
Rp=等效交流并联电阻＋/span>
Cp=并联电容＋/span>
=2f（假设为正弦波形状）
耗散因子的倒数为品质因子Q，有时成为储能因子。对于串联和并联模型，电容器耗散因子D都是相同的，按如下表示为９/span>
D=RsCs=1/RpCp (4)
串联和并联部分之间的关系满足以下要求９/span>
Cp=Cs/(1 D2) (5)
Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2 (6)
4?/span>数据采集和tan自动测量控件（装入AS2853A)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tan 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的、/span>
三、主要技术特性及配置
序号 |
戏/span> |
叶/span> |
数量 |
宵/span> |
1 |
主机 |
LJD-C |
1?/span> |
|
测试装置（夹具） |
AS916 |
1?/span> |
||
标准电感 |
HLKI-1 |
1奖/span> |
||
2 |
三电极系?油中、空气中) 油中带油 |
?奖/span> |
||
3 |
油槽 |
1?/span> |
||
4 |
日常维修工具 |
1奖/span> |
||
说明?/span> |
介电常数测试?GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试?介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试?工频介电常数测试?固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析?GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz.ZJD-C介电常数测试仪采用了多项技术、/span>
双扫描技 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能、/span>
双测试要素输 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入、/span>
双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐、/span>
自动化测量技 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量、/span>
全参数液晶显 数字显示主调电容、电感 Q 值、信号源频率、谐振指针、/span>
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定、/span>
计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至z低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑、/span>
二、主要技术特性：
*1.信号溏 DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ
*2.信号源频率精?10-5 1个字?位有效数
3．Q值测量范围：1?023
4．Q值量程分档：30?00?00?000、自动换档或手动换档：/span>
*5．电感测量范围：1nH?40mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能
*6．电容直接测量范围：1pF?5nF
7．主电容调节范围 17?40pF
8．准确度 150pF以下1pF?50pF以上1%
9．信号源频率覆盖范围100kHz?60MHz
10．合格指示预置功能范围：5?000
11．环境温度：0℃～+40℃；
12．消耗功率：?5W；电源：220V22V?0Hz2.5Hz、/span>
13. S916（数显）介电常数r和介质损耗因数tan测试装置９/span>
数显式微杆，平板电容器：
极片尺寸 38mm
极片间距可调范围：≥15mm
夹具插头间距?5mm0.01mm
夹具损耗正切值≤410? ?MHz（/span>
测微杆分辨率?.001mm
测试极片：材料测量直?#934;38mm厚度可调 15mm
*液体杯：测量极片直径 38mm 液体杯内?#934;48mm 、深7mm
14.介电常数测试?GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试?介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试?工频介电常数测试?固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析?GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪电感组LKI-1９/span>
分别?.05H?.1H?.5H?.5H?0H?0H?00H?mH?mH?0mH十个电感组成、/span>
三、配置：
主机 一?/span>
电感 九支
夹具 一奖/span>
液体 一奖/span>
随机文件一奖/span>
暂无数据
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