测量原理

右图，Pump �?泵浦�?为一束光束质量较好的强激光聚焦到待测样品上，光吸收的存在将在样品内部产生热波，从而在样品内部形成周期性的梯度折射率分布，即热透镜效应，当一束Probe beam(探测�?经过热透镜效应区域与pump光相交时，探测光在该焦点处波前发生畸变引起点衍射共路干涉，并产生周期性相位畸变信号。探测器通过探测其相位畸变情况并由锁相放大器信号处理�?后由软件计算显示出待测样品的吸收值、�/p>

PCI弱吸收仪特点９�/strong>

• 精度髗� 1 ppm：�/p>

• 一次测量可以区分体、面吸收：�/p>

• 扫描速度快（几分钟）：�/p>

• 对样品规格要求不高；

• 操作方便、简单、�/p>

PCI弱吸收仪应用领域９�/strong>

• 光学薄膜

• 光学晶体材料

• 光学镜片

PCI弱吸收仪性能

• 测量晶体（LBO、YVO4、KTP…）或光学产品（K9、BK7、UVFS…）内部材料的弱吸收（体吸收（�/p>

• 测量晶体或光学产品的表面吸收或薄膜吸攵�/p>

PCI 指标说明

波长	常规355�?32�?064nm，其它波长可定制
灵敏�?/td>	体吸攵�1ppm/cm；面吸收:1ppm
样品规格	方形、圆形均�?/div> *小尺寸（mm）：3x3x3：�/div> **尺寸（mm）：50x50x50 其它尺寸可定刵�/div>
测试速度	常规2min/片（相对6mm厚度（�/td>
区分体、面吸收	一次测量可以区分体、面吸收
软件扫描功能	AbMat-1D: 一维逐点扫描 AbMat-2D: 二维吸收立体扫描
扫描方式	长度/�?时间扫描

PCI 配置说明

1.光源	Probe光源 632nmHe-Ne 激光器（原装进口） -**功率�?mw -功率稳定性：<0.1% -发散角：1.3mrad -偏振比：500:1 Pump光源 #1064nm 光纤激光器 -平均功率� 20W（CW（�/div> -光束质量M2９�1.5 -功率稳定性：�?%(超过5 小时) -偏振：随朹�/div> -制冷方式：风冶�/div> -偏振光系绞�/div>
2.探测部分	原装进口 含锁相放大器、光斩波器、探测器、功率计、二维调整架等、�/div>
3.载物台部刅�/td>	原装进口 含三维步进电机、样品支架等
4.光学元件部分	反射镜、透镜、功率调节器筈�/td>
5.软件部分	实时数据采集，自动保存，数据分析等、�/div> 一维逐点扫描 二维吸收立体扫描
6.其它说明	建议设备安装在超净间环境； 建议配UPS电源、�/div>

测量结果及仪器实物图