误差率:
0.5分辨率:
0.1nm重现性:
0.5仪器原理9/p>其他
分散方式9/p>0.5
测量时间9/p>0.5
测量范围9/p>0.5
看了FIB聚焦离子束系统的用户又看亅/p>
虚拟号将 180 秒后失效
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蔡司双束电镜CROSSBEAM系列,是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。CROSSBEAM系列将场发射扫描电子显微?FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)出色的加工能力相结合、span style="color: rgb(51, 51, 51); font-family: 微软雅黑, "Microsoft Yahei"; font-size: 14px; text-align: justify; text-transform: uppercase;">1,生命科学,如断层扫描,三维重构
2,电池领域,如原子层组分表征
3,半导体领域,如失效分析,电路修夌/span>
4,金属领域,如界面分析,亚表面分枏/span>
5,材料科学,如晶体微观结构分析,纳米图形化加?/span>
6,透射电镜、EBSD、微观力学等多种样品的原位制夆/span>
7,微纳加工、/span>
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