HORIBA模块化科研级稳瞬态荧光光谱仪Fluorolog-QM-参数-价格-中国粉体罐�/title>

Fluorolog-QM代表了五十多平�/span>HORIBA的荧光行业先进经验以及制造高水平和功能多样性的荧光光谱仪的顶峰。相较于其他科研级荧光光谱仪＋�/span>Fluorolog-QM以其全波长范围内**的反射性能以及众多的光源和检测器选择方案，全套寿命技术扩展了寿命测试波长范围臲�/span>5500nm，以及显微镜�?/span>X射线、低温量子产率、偏振、远程测试、变温高温等多种附件选择方案等优势，为荧光测试提�?***的高灵敏度和无限拓展性、�/span>

‛�/span>仪器性能、通用性及操作便捷性的飞跃提升“�/span>

l反射式光路设计，保证全波长范围准确聚焦，无需调整光路，性能全优化，这是高灵敏度的保�?/span>

l具备优势皃�/span>杂散光抑制比，像差校正长焦长单色仪（单级９�/span>350 mm，双级：700 mm（�/span>

l配备专业分析软件，满足所有稳态和寿命测试需求，具有多种新型寿命拟合功能

l扩展波长范围，光路由气氛保护，保证深紫外到近红外区域的检浊�/span>

l可同时连�?/span>4种光源和6个检测器，且全部由电脑控制，实现多功能测诔�/span>

l即插即用＋�/span>100 MHz脉冲光源，强匕�/span>TCSPC寿命功能

l近红外稳态和磷光寿命检测波长至5500 nm

l优化的光学设计，氙灯光源扩展深紫外激发（低至180 nm），无臭�?/span>

高灵敏度

Fluorolog-QM具有HORIBAPowerArcTM型氙灯光源配合椭球形反射镜，实现70%超高聚光效率，并可将光束聚焦在单色仪狭缝处极小的点上，可更快速地激发样品，减少光源功率过大带来的高能耗与高热量，维护成本也显著降低、�/span>

Fluorolog-QM采用了像差校正的单色仪，该单色仪针对光通量与杂散光进行了优化，也保证了Fluorolog-QM的高灵敏度、�/span>

全反射式聚焦光路，使得全光谱范围＇�/span>180~5500nm）准确聚焦样品表面，保证亅�/span>Fluorolog-QM的高灵敏度、�/span>

高分辨率

Fluorolog-QM系列荧光光谱仪使�?/span>350 mm焦长非对�?/span>Czerny-Turner设计单色仪，带有电动三光栅塔轮和电动转折镜，超过30种光栅可选、�/span>

通过电脑控制高精度微步电机和优化后的光栅相结合，实现小至0.01 nm步进，与光学设计、长焦长、全反射光学和抑制光学像差相结合，可实现优于0.1nm的高光谱分辨率、�/span>

杂散光抑制显葖�/span>

Fluorolog-QM系列荧光光谱仪，配备50 mm焦长非对称式Czerny-Turner单色仪，采用光路像差校正，分别针对激发、发射侧独立优化，确保高杂散光抑制能力，获得荧光信号。单级单色仪具有1×10^-5的高杂散光抑制比，为了实现更高的灵敏度和光谱性能＋�/span>Fluorolog-QM还可配置两个350 mm焦长的单色仪，从而实�?nbsp;700 mm焦距咋�/span>1×10^-10杂散光抑制比，相较于其他荧光光谱仪，HORIBA 双级中间狭缝光学设计（软件控制），进一步优化分辨率和杂散光抑制比、�/span>

满足不同测试需求的多种硬件配置解决方案

Fluorolog-QM系列采用开放式的结构设计，可实现无限扩展，满足未来任何可能的荧光应用需求。您可以通过选择光源、光栅和检测器以及大量可用的附件来优化*初配置。可选配置多种多栶�/span>!

可同时连�?/span>4种光源和6个检测器，且全部由电脑控制，实现多功能测试、�/span>

配合TCSPC＋�/span>MCS＋�/span>SSTD和真实门控技术，保证了全光谱稳瞬态（皮秒~秒及长余辉测试）、磷光光谱（延迟光谱）测试功能、�/span>

TCSPC寿命测量

Fluorolog-QM系列轻松扩展TCSPC寿命测试系统。利用先进的TCSPC激发光源，电子计时单元和检测器＋�/span>Fluorolog-QM可提供快速的测试，强大的通用性、�/span>

l所有的稳�?/span>/时间分辨控制，采集和分析都在FelixFL软件中进行、�/span>

l超过40年的TCSPC研发和生产经骋�/span>

l100 MHz操作系统，实现毫秒内完成采集

l根据寿命测试时间范围，软件自动控制脉冲光源频玆�/span>

lTCSPC寿命测试范围仍�/span>5 ps�?/span>s

lFelixFL软件包实现稳/瞬态采雅�/span>

l可测野�/span>TCSPC寿命、时间分辨各向异性和时间分辨发射光谱＇�/span>TRES（�/span>

l超过60个先进的脉冲LED和脉冲激光可供选择

l配合HORIBA倍频器，扩展皮秒超连续激光器的多用逓�/span>–�/span>研究蛋白时间分辨的强大工其�/span>

l寿命衰减曲线分析包具有多种拟合模型，包括**熵法(MEM)寿命分布程序

近红外解决方案（适合热点研究应用：稀土、量子点�?/span>AIE、近红外二区探针等）

SSTD磷光检测模式是所月�/span>Fluorolog-QM系统的标配功能，为近红外样品的近红外发光研究提供解决方案、�/span>SSTD测试速度比传统的MCS技术快8倍，并且不受检测器类型限制＇�/span>MCS技术只能配吇�/span>PMT检测器），从而扩展寿命检测范围至5500nm、�/span>

Fluorolog-QM可配备多个光源和检测器，以覆盖*宽波长范围的稳态光谱，荧光和磷光寿命测试需求。可参考以下配�?/span>:

l配置R928 PMT�?/span>NIR PMT＇�/span>H0330戕�/span>R5509-73市场主流型号）�?/span>InGaAs咋�/span>InSb检测器的双发射单色仪覆盖范围从185 nm�?/span>5500 nm

l用于稳态光谱的连续氙灯

l20 Hz Q调制开兲�/span>/OPO激光器，用亍�/span>210 nm�?/span>2200 nm的可调激叐�/span>

l180 nm�?/span>5500 nm的稳态光谰�/span>

l单脉冲实时采集技�?/span>(SSTD)用于测量仍�/span>185 nm�?/span>5500 nm范围内的磷光衰减

多种近红外荧光测试解决方桇�/span>

NIR PMT检测器

NIR PMT检测器具有超高灵敏度，同时适用于稳态和TCSPC寿命测量，目剌�/span>TCSPC电子设备是获得皮秒到纳秒荧光寿命的选择选择、�/span>

4欽�/span>NIR PMT，满足宽光谱覆盖范围

l300~1400 nm，液氮制冶�/span>

l300~1700 nm，液氮制冶�/span>

l950~1400 nm，电制冷

l950~1700 nm，电制冷

固态光电二极管近红外检测器

HORIBA可提供多种光电二极管，包�?/span>LN制冷，检测范围可扩展臲�/span>5500 nm、�/span>

lInGaAs: 800~1700 nm/1900/2100/2600 nm

lInAs: 1000~3450 nm

lInSb: 1500~5500 nm

NIR寿命测量波长范围可达5500 nm!

以上列出所有检测器均可在单脉冲磷光(SSTD)模式中用亍�/span>NIR发光寿命测量，寿命测量范围可仍�/span>1微秒至秒、�/span>SSTD技术具有超快检测速度和超高的信噪毓�/span>:

l可调超高频闪烁氙灯，用于荧光寿命测试

l第三方脉冱�/span>Q调制激光器

l相较亍�/span>NIR PMT，固态近红外检测器提供更高性价比的磷光检测方案、�/span>

强大皃�/span>FelixFL软件

Fluorolog-QM荧光光谱仪集戏�/span>FelixFL软件，实现仪器硬件和附件控制、�/span>FelixFL作为新型软件平台，界面友好，操作简单，可用于所有稳态及时间相关光谱的采集和分析。通过USB接口连接＋�/span>FelixFL即可拥有全套数据采集支持，实现控制所有系统配置和运行多种操作模式、�/span>