技术指标：

测量原理	动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS（�/span>
粒径测量角度	90°
粒径测量范围	0.3nm -15μm*
粒径准确�?/span>	优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）
粒径重复�?/span>	优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）
粒径测量*小样品浓�?/span>	0.1mg/ml
粒径测量*小样品量	3ul*
Zeta电位测量范围	-600mV - +600mV
**电导玆�/span>	270mS/cm
适用Zeta电位测量的粒徃�/span>	3nm � 100μm*
电导率准确度	±10%
分子量范図�/span>	340Da-2 x 107Da
温度控制范围	0°C - 90°C (120°C可�?
温度控制精度	±0.1°C
光源	集成恒温系统及光纤耦合�?*功率50mW, 波长638nm固体激光器
相关�?/span>	高速数字相关器，自适应通道配置
检测器	高灵敏度APD
系统重量	17kg
外形尺寸	365mm x 475mm x 180mm（LxWxH（�/span>

注：*取决于样品及样品池选件

Nanolink SZ901系列是真理光学在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统，采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量咋�/span>Zeta电位分析，被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析、�/span>

Nanolink SZ901的杰出性能和主要特点包括：

◅�/span>经典90°动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm � 15μm

◅�/span>激光多普勒电泳技术用亍�/span>Zeta电位分析，可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向�?/span>

◅�/span>加持自动恒温技术的**功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用

◅�/span>**的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技�?/span>

◅�/span>**的信号光与参考光的光纤合束及干涉技�?/span>

◅�/span>集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器

◅�/span>常规温度控制范围可达0°C-90°C,**可逈�/span>120°C,精度±0.1°C

◅�/span>新一代高速数字相关器，动态范围大亍�/span>10¹¹

◅�/span>冷凝控制�干燥气体吹扫技�?/span>