参考价栻/p>面议
型号
牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测?/span>品牌
牛津产地
英国样本
暂无功率(kw):
-重量(kg):
-规格外形(长*?高)9/p>-
看了牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器的用户又看亅/p>
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Ultim Max TEM,搭载于透射电子显微?TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析、/span>
全新设计80mm2的传感器,进一步接近样品并提供更多的x射线计数、/span>UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , ?nbsp;200kV下EDS分析提供高质量数据、/span>
· 0.2 - 0.6 srad的立体角
· 对低能量x射线的灵敏度可提?倌/span>
· 可在400,000cps的计数率下进行定量分枏/span>
在原位实验中,可?000°C的温度下采集谱图
旗舰欽/span>SDD传感器Ultim Max TLE+/span>搭载于透射电子显微?TEM),经过设计优化,提高了小束斑下的计数率,可表征原子尺度的元素信息、/span>
这一性能是通过优化的晶体形状,100mm2大面积晶体,无窗结构,优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的、/span>
0.5 - 1.1srad的立体角
对低能量x射线的灵敏度可提?倌/span>
可在400,000cps的计数率下进行定量分枏/span>
在原位实验中,在高至1000°C的温度下采集谱图
Xplore TEM是专门为120kV?00kV 透射电镜(TEM)的常规应用而设计的元素分析系统。使用新?nbsp;80mm2 传感器和聚合物薄窗口及低噪音电子元器?nbsp;, 为用户提供快速和准确的元素表征、/span>
0.1 - 0.4 srad的立体角
从Be到Cf的元素检浊/span>
可在200,000cps的计数率下进行定量分枏/span>
SATW窗口为广泛的应用提供了极大的便利?/span>
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