分辨率:
-重现性:
-分散方式9/p>-
测量时间9/p>-
测量范围9/p>-
误差率:
-虚拟号将180秒后失效
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Ultim Max TEM,搭载于透射电子显微?TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析、/span>
全新设计80mm2的传感器,进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , ?nbsp;200kV下EDS分析提供高质量数据、/span>
·0.2 - 0.6 srad的立体角
·对低能量x射线的灵敏度可提?倌/span>
·可在400,000cps的计数率下进行定量分枏/span>
·在原位实验中,可?000°C的温度下采集谱图
暂无数据