误差率:
-分辨率:
-重现性:
-分散方式9/p>-
测量时间9/p>-
测量范围9/p>-
虚拟号将180秒后失效
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Xplore TEM是专门为120kV?00kV 透射电镜(TEM)的常规应用而设计的元素分析系统。使用新?nbsp;80mm2传感器和聚合物薄窗口及低噪音电子元器?nbsp;, 为用户提供快速和准确的元素表征、/span>
0.1 - 0.4 srad的立体角
从Be到Cf的元素检浊/span>
可在200,000cps的计数率下进行定量分枏/span>
SATW窗口为广泛的应用提供了极大的便利?/span>
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