参考价栻/p>面议
型号
FT-3110A品牌
ROOKO产地
浙江宁波样本
暂无探测器：
3%加速电压：
3%电子枪：
3%电子光学放大９/p>3%
光学放大９/p>3%
通道数：
3%误差率：
3%波长准确度：
3%灵敏度：
3%分辨率：
1%重现性：
3%仪器原理９/p>电阻式计?/span>
分散方式９/p>自动
测量时间９/p>60s
测量范围９/p>10^-5?×10^5Ω
看了全自动四探针测试仪的用户又看亅/p>
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FT-3110系列全自动四探针测试?/span>
一.功能描述９/span>
四点探针法，全自动化运行测量系统＋/span>PC软件采集和数据处理；参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻；可设定探针压力值、测试点数、多种测野/span>模式选择；真空环境，可显示：方阻、电阻率?/span>显示2D,3D扫描/数值图?/span>温湿度值?/span>提供标准校准电阻仵/span>.报表输出数据统计分析.
事/span>.适用范围
晶圆?/span>非晶硄/span>/微晶硅和导电膜电阻率测量；选择性发射极扩散片；表面钝化片；交叉指样PN结扩散片；新型电极设计，如电镀铜电阻测量等：/span>半导体材料分析，铁电材料，纳米材料，太阳能电池，LCD，OLED，触摸屏筈/span>.
丈/span>.技术参数：
规格型号 |
FT-3110A |
FT-3110B |
1.电阻 |
10^-5?×10^5Ω |
10^-6?×10^5Ω |
2.方块电阻 |
10^-5?×10^5Ω/■/span> |
10^-6?×10^5Ω/■/span> |
3.电阻玆/span> |
10^-6?×10^6Ω-cm |
10-7?×106Ω-cm |
4.测试电流 |
0.1μA.μA.0μA?00µA?mA＋/span> 10mA?00mA |
1A?/span>100mA?/span>10mA?/span>1mA?/span>100uA?/span>10uA?/span>1uA?/span>0.1uA |
5.电流精度 |
±0.1% |
|
6.电阻精度 |
?.3% |
|
7.PC软件操作 |
PC软件界面：电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚 ?/span>2D?D图谱?/span>压力?/span> 报表生成筈/span> |
|
8.压力范围９/span> |
探针压力可调范围：软件控?100-500g可调 |
|
9.採/span>钇/span> |
针间绝缘电阻：≥1000MΩ；机械游移率：≤0.3% 圆头铛/span>镀釐/span>材质＋/span>探针间距1mm?mm?mm选配＋/span>其他规格可定刵/span> |
|
10.可测晶片 尺寸选购 |
晶圆尺寸?-12寷/span>＇/span>6寷/span>150mm＋/span>12寷/span>300mm）； 方形片：大至156mm X 156mm ?25mm X 125mm |
|
11.分析模式 |
单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的自动测试 |
|
12.加压方式 |
测量重复性：重复性≤3% |
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13.安全防护 |
具有限位量程和压力保抣误操作和急停防护;异常警报 |
|
14.测试环境 |
真空 |
|
15.电源 |
输入: AC 220V±10%.50Hz 耗：<100W |
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16.选购项目 |
电脑和打印机 |
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四点探针法，全自动化运行测量系统，PC软件采集和数据处理；参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻；可设定探针压力值、测试点数、多种测量模式选择；真空环境，可显示：方阻、电阻率、显?D,3D扫描/数值图、温湿度值、提供标准校准电阻件. 报表输出数据统计分析.
四探针电阻率测试仪是一款主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器。四探针电阻率测试仪对于半导体材料的电阻率，一般采用四探针、三探针和扩展电阻。电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率皃/p>
LX-9830G 恒流恒压电压降检测仪详情介绍操作流程及步骤：1. 接通电源，开?. 设置好测试条?
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