分辨率:
大于0.1nm重现性:
<1%仪器原理9/p>动态光散射
分散方式9/p>湿法分散
测量时间9/p>1-10min
测量范围9/p>5nm-100µm
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Zeta-APS 高浓度纳米粒度及Zeta电位分析?/strong>
Zeta-ASP是高浓度胶体和乳液的特性参数检测仪,可以测试:粒径、Zeta电位、滴定、电导等、br style="-webkit-tap-highlight-color: transparent; -webkit-appearance: none; margin: 0px; color: rgb(51, 51, 51); font-family: " microsoft="" font-size:="" white-space:="" background-color:=""/>此仪器容易使用、测量精确。对于高?0%(体积)浓度的样品,也无需进行稀释或样品前处理,即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量、/p>
典型应用9/strong>
综合稳定水泥浆,陶瓷,化学机械研磨,煤浆,涂料,化妆品,环境保护禅选法矿物富集,食品工业,乳胶,微乳,混合分散体系,纳米粉,无水体系,油漆成像材料、/p>
主要特点9/strong>
1)能分析多种分散物的混合体;
2)无需依赖Double Layer模式,精确地判定等电点;
3)可适用于高导电(highly conducting)体系:/p>
4)可排除杂质及对样品污染的干扰;
5)可精确测量无水体系:/p>
6)Zeta电位测试采用多频电声测量技术,无需先测量粒度即可进行电位测量;
7)样品的高浓度可?0%(体积?,被测样品无需稀释,对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量;
8)具有自动电位滴定功能;
优于光学方法的技术优势:
1)被测样品无需稀释;
2)排除杂质及对样品污染的干扰;
3)不需定标:/p>
4)能分析多种分散物的混合体:/p>
5)高精度;
6)所检侧粒径范围款? nm?000um
Zeta-APS 高浓度纳米粒度及Zeta电位分析?/p>
优于electroactics方法的技术优势:
1)无需定标:/p>
2)能测更宽的粒径范围;
3)无需依赖Double Layer模式
4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲;
5)零表面电荷条件下也可测量粒径:/p>
6)可适用于无水体系;
7)可适用于高导电(highly conducting)体系:/p>
优于微电泳方法的技术优势:
1)无需稀释,固合量高?0%:/p>
2)可排除杂质及对样品污染的干扰:/p>
3)高精?±0.1mv):/p>
4)低表面电?可低?. 1mv):/p>
5)electrosmotic flow不影响测量;
6)对流(convection)不影响测量;
7)可精确测量无水体系;
技术参数:
1)所检测粒径范围宽:从5 nm?000um:/p>
2)可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减:/p>
3)Zeta电位测量范围?/-200 mv,低表面电荷(可低?. 1mv),高精度(±0.1mv);
4)零表面电荷条件下也可测量粒径:/p>
5)允许样品浓度?.1-60%(体积百分?:/p>
6)样品体积?0-230ml:/p>
7)PH范围?~14;
8)电导率范围:0~10 s/m
Zeta-ASP是高浓度胶体和乳液的特性参数检测仪,可以测试:粒径、Zeta电位、滴定、电导等、br /> 此仪器容易使用、测量精确。对于高?0%(体积)浓度的样品,也无需进行稀释或样品前处理,即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量
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