赛默飞Apreo C场发射扫描电镜带能谱�?参数-价格-中国粉体罐�/title>

Thermo Scientifific℡�/span>Apreo SEM具有*广泛地适用性，可以�?短时间内为材料研究人员提�?*的成像质量�归�/span>Apreo的电子束打开，形貌和成分衬度可以同时被镜筒内�测系统呈现：无需繁琐操作，即可快速探索并获取样品各方�信息。在高放大倍率下，Apreo的长工作距离（如10mm分析工作距离）也能表现出杰出的分辨性能。即使在绝缘、电子束�感或磁性的材料上，Apreo的用户界面也可以高效地引导操作�获得表征该纳米结构的**参数条件、�/span>Apreo能在短时间内解决错综复杂的研究问题，适用于需要多功能以及多用户操�的应用场合�Apreo是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，其创新的末级透镜设计，丝毫不会降低对磁性样品的分辨�力� 静电式末级透镜＇�/span>Apreo C咋�/span>Apreo S）能够实现镜筒内多种信号的同时探测和高分辨率，耋�/span>Apreo S则结合静电、浸没式磁场的复合透镜以进一步提高低电压下的分辨率，�?/span>1 kV加速电压下的分辨率丹�/span>1.0 nm，不需要电子束减速。通过将浸没式磁透镜和静电透镜组合还可以实现特有的信号过滤功能�Apreo拥有透镜内背散射探测�?/span>T1，其位置紧靠样品，确保在较短的时间内获得**量的采集信号。与其他背散射探测器�同，这种快速的探测器在导航时、倾斜时或工作距离很短时能够始终保持良好的材料衬度。在表征敏感样品时，探测器的�越性能尤为突出，即使电流低至几pA，它也能提供清晰的背�射图像、�/span>Apreo S复合末级透镜通过能量过滤实现高质量的�料衬度以及绝缘样品的无电荷成像，迚�/span>一步提高了T1 BSE�测器的使用价值、�/span>Apreo还提供了受欢迎的选配探头来补充其探测能力，例如定向背散射探测�?/span>(DBS)�?/span>STEM 3+和低真空�体分析探测器(GAD)。所有这些探测器都拥有独一无二的软件控制分割功能，以便根据需求选择*有价值的样品信息、�/span>

全面实现纳米或亚纳米分辨性能，从纳米颗粒，粉末，催化剂和纳米器件到块状磁性样品等材料�***的背散射电子探测始终可保证良好的材料衬度，即�是以低电压和小束流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行TV速率成像是也不例外�无比灵活的探测器可将各个探测器分割提供的信息相结合，让用户能够获得至关重要的对比或信号强度�各种各样的荷电缓解策�?/span>，包括样品仓压力**丹�/span>500 Pa的低真空模式，可实现任何样品的成像�**的分析平台提供高电子束电�?/span>，而且束斑很小。仓室支持三�?/span>EDS探测器、共面的EDS咋�/span>EBSD以及针对分析而优化的低真空系统�样品处理和导航极容易＋�/span>具有多用途样品支架和Nav-Cam+�通过高级用户指导、预设和撤消功能为新用户提供�家级结果�高真空模式下成像的羟磷灰石晶体的低能� (1 keV) 二次电子图像、�/span>

每个Apreo都按标准配备各种用以处理绝缘样品的策略，�括：高真空技术，例如SmartSCAN℡�/span>、漂移补偿帧积分(DCFI)�电荷过滤。对�?有挑战性的应用＋�/span>Apreo可提供电荷缓解策略。其中包括可选的低真空（**丹�/span>500 Pa）策略，通过经现�验证的穿镜式差分抽气机构和专用低真空探测器，不但可以�解任何样品上的电荷，还能提供**的分辨率和较大的分析�流�随着分析技术的使用越来越常规化＋�/span>Apreo仓室经过全新设计�以便更好地支持不同的配件和实验。仓�?多容纳三�?/span>EDS/WDS端口，可实现快速敏感的X射线测量、共靡�/span>EDS/EBSD/TKD排列并与（冷冻）CL、拉曼�?/span>EBIC和其他技术兼容�所有这些功能都能通过简单的样品处理和熟悉的xT UI获得�节省了新用户和专家级用户的时间。可自定义的用户界面提供了诸多用户指导、自动化和远程操作选项�通过所有这些优势（包括复合末级透镜、高级探测和灵活样品处理），Apreo可提供出色的性能和多功能性，帮助您应对未来多年的研究难题、�/span>

.8 nm电子光学器件�高分辨率场发尃�/span>SEM镜筒，配月�/span>:�高稳定性肖特基场发射电子枪，用于提供稳定的高分辨率�析电��复合末级透镜：静电、无磁场和浸没磁技术结合而成的物镛�/span>*�60°物镜几何结构：支持倾斜较大的样��自动加热式光阑，可确保清洁和无接触式更换光阑��支持低真穹�/span>*的穿镜式差分抽气结构，可减少电子束裙散效应，以实�?精准的分析和**的分辨率�载物台偏压在-4000 V�?/span>+600 V之间的电子束减��持续的电子束电流控制和经过优化的孔隙角度�双载物台扫描偏转�轻松安装和维护的电子�?/span>‒�/span>自动烘烤、自动启动、无需机械�轳�/span>�保证�?短灯丝寿命：24个月电子束分辨率 �?*工作距离型号Apreo C Apreo S末级透镜静电� 复合�高真�30 kV (STEM) 0.8nm15 kV 1.0 nm 0.7 nm1 kV 1.3 nm 1.0 nm1 kV (样品台减逞�/span>) 1.0 nm 0.8 nm500 V (样品台减逞�/span>) 0.9 nm100 V (样品台减逞�/span>) 1.8 nm低真穹�/span>*15 kV 1.2nm3 kV 1

默认情况下，在完�?终安装后的系统验收测试中将检验在高真空并启用浸没模式（如果适用）的情况下电压为1 kV咋�/span>30 kV时的分辨率�电子束参��电子束电流范図�/span>: 1 pA-400 nA�加速电厊�/span>: 200 V‒�/span>30 kV�着陆能量范図�/span>: 20 eV‒�/span>30 keV�**水平视场宽：10 mm工作距离下为3.0 mm（对应于 *�放大倍率x29�� 10mm分析工作距离1kV时电子束分辨玆�/span>: 1nm仓室�内宽: 340 mm�分析工作距离: 10 mm� 12个color:rgb(35,31,32);"> 500 Pa�EDS出射角度丹�span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;"> 35°�可同时安装三�?span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;"> EDS探测�?span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;">,两个处于180°�共面皃�span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;"> EDS/EBSD与样品台的倾斜轴垂直�探测�Apreo通过可用探测器或探测器的分割部分的任意组合，*� 可同时探测四个信号：� Trinity探测系统(透镜内和镜筒冄�span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;">)�T1分割式透镜内低位探测器�T2透镜内高位探测器�T3镜筒内探测器*� ETD‒�/span>Everhart-Thornley SE探测�� DBS‒�/span> 可伸缩分割式透镜上�span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;"> BSED*�低真穹�span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;"> SE探测�?span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;">*� DBS-GAD-安装在透镜上的气体分析BSED� STEM 3+‒�/span> 可伸缩分割式探测器（BF�?span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;">DF�?span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;">HADF�?span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;">HAADF)*� IR-CCD� Nav-Cam+℡�/span>-安装在仓室内的样品导航摄像头真空系统�完全无油的真空系�� 1 × 220 l/s TMP� 1 × PVP-涡旋�� 2 × IGP�仓室真空（高真空（�span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;">< 6.3 × 10-6 mbar＇�span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;">72小时抽气后）�抽气时间９�span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;">� 3.5分钟�可选的低真空模��仓室压力丹�span style="font-family: HelveticaNeueLTPro-Lt;"> 10�?00pa

lor:rgb(35,31,32);">分割和缝�载物台和样品类型共心测角台，5轴电�XY 110 × 110 mm重复�< 3.0 μm (0°倾斜旵�/span>)电动Z 65 mm旋转n × 360°倾斜-15°/ +90°**样品高度距共心点85mm**样品重量任意载物台位置均丹�/span>500g＇�/span>0°倾斜时，**丹�/span>2kg�**样品尺寸可沿X�?/span>Y轴完全旋转时直径丹�/span>122mm（若样品超过此限值，则载物台行程或旋转受限）每个可选横杆可容纳6�?/span>S/TEM载网�晶圆和自定义支架*系统控制� 64佌�/span>GUI (Windows 7)、键盘、可选鼠�� 24英寸LCD显示屏�?/span>WUXGA 1920 × 1200（第二台监视�可选）�可定制的图形用户界面�?多同时激洺�/span>4个视��图像注册�蒙太奇导��图像分析软件�撤消/重做功能�有关基本操作/应用的用户指��可选操纵杆�可选的手动用户界面（旋钮板�图像处理��驻留时间范围丹�/span>25纳秒-25毫秒/像素�**6144 × 4096像素�文件类型９�/span>TIFF＇�/span>8�?/span>16�?/span>24位）�?/span>JPEG戕�/span>BMP�单帧戕�/span>4视图图像显示� SmartSCAN＇�/span>256帧平均或积分、线积分和平均法、隔��扫描�� DCFI（漂移补偿帧积分�配件（可选）�样品/仓室清洁９�/span>FEI CryoCleaner�?/span>FEI集成的等离子清洗��分析９�/span>EDS�?/span>EBSD�?/span>WDS�?/span>CL、拉��QuickLoader℡�/span>：用于快速样品传输的交换��导航：关联导航�?/span>MAPS

2);">应用培训合同� FEI气体注入�?夙�/span>2个单位（其他配件可能会限制可用的GIS数）� 适用于以下材料的电子束诱导沉积：�铁�/span>��?/span>�碲�/span>�机械��冷冻载物��电气探查/多探查台�静电束闸软件选项� MAPS，适用于自动采集大型图像和可选的相关工作� iFast，提供高级自动化功能�具有网络连接的数据归档软��高级图像分析软件文档�在线用户指南�使用说明手册�在线帮助�适用RAPID（远程诊断支持）�免费访问‛�/span>FEI for Owners“�/span>在线资源保修和培�� 1年保��可选服务维护合��可选操佛�/span>/

35,31,32);">)安装要求（请参考安装前指南，以获取详细数据��电源��电压９�/span>100-240 V AC＇�/span>-6%＋�/span>+10%��频率９�/span>50戕�/span>60 Hz (±1%)�能耗：< 3.0 kVA（基本款显微镜）�接地电阻９�/span>< 0.1 Ω�环境��温度９�/span>(20 ± 3)°C�相对湿度：低亍�/span>80%�杂散AC磁场：在20 ms＇�/span>50 Hz电源）或17 ms＇�/span>60 Hz�源）线时间下＋�/span>< 40 nT（异步）戕�/span>< 100 nT（同步）�*小门尺寸９�/span>0.9 m宼�/span>× 1.9 m��重量：镜筒控制台丹�/span>980 kg�建议使用干氮进行放气�干净、干燥且无油皃�/span>4-6 bar压缩空气�系统水冷却装��噪音：根据相关声谱进行现场调��

创新炸�/div>

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