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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镛/p>
JEM-ARM300F实现了世?*扫描透射?STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器?*加速电压可?00kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界**的STEM-HAADF像分辨率、/p>
实现了世?*扫描透射?STEM-HAADF)分辨玆/span>
JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器?*加速电压可?00kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界**的STEM-HAADF像分辨率、/p>
STEM-HAADF像的保证分辨率达到了****?8pm
采用JEOL自主研发的球差校正器,扫描透射像(STEM?的保证分辨率可达58pm?00kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时)、/p>
ETA校正 JEOL自主研发?2极球差校正器 ※选配仵/p>
ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器、/p>
强大的冷场发射电子枪HyperCF300
标配了全新设计的冷场发射电子?低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析、/p>
两种物镜极靴
为了支持用户广泛的需求,研发了两种各具特点的物镜极靴、/p>
丰富的选购仵/span>
能安装超大立体角EDS(能谱仪)、EELS(电子能量损失谱仪)、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器、/p>
大范围的加速电压设?/span>
标配300kV?0kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV,使用范围极广、/p>
新开发的真空系统
新的排气系统达到了极高的真空度,在原子尺度的图像观察和分析中?*限度地减轻了对样品的污染和损伤、/p>
高稳定的镜筒和样品台
整体稳定性高、直?30mm的镜筒增加了机械刚度 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上,把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度、/p>
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