参考价栻/p>面议
型号
Advance Riko ZEM-5品牌
产地
样本
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ZEM-5 Series塞贝克系?电阻测量系统可以对高温材料,高电阻材料,薄膜材料等多种材料进行测量、/span>
应用9/span>
评估半导体、陶瓷、金属等材料的热电性能、/span>
特性:
1. 应用于各种材料的特性及特殊规格的薄膜等:/span>
2. 测试Si系列(SiGe, MgSi). (HT ? 的材料的**温度传感器是使用C型热电偶:/span>
3. 标配V-I图自检测系统;
4. **测试温度1200℃(HT 型):/span>
5. **测量电阻10MΩ(HR 型):/span>
6. 测量在衬底上的热电沉积膜'/span>TF 型):/span>
7. 温控范围?/span>-150℃~200℃(LT 型):/span>
设备参数9/span>
型号 | ZEM-5HT | ZEM-5HR | ZEM-5LT | ZEM-5TF |
特点 | 高温 | 高电阺/span> | 中低?/span> | 薄膜 |
温度范围 | 100~1200ℂ/span> | 50~800ℂ/span> | -150~200ℂ/span> | 50~500ℂ/span> |
工作气氛 | 低压He氓/span> | |||
试样尺寸 | Square 2-4 mm or φ2-4 mm × 3-15 mm L | 基质沉积9/span> 2-4 mm W × 0.4-1.2 mm t × 20 mm L 薄膜厚度:纳米级或更厙/span> ※试样和基底之间需要绝缘层:/span> |
Seebeck系数测量方法 设备参数'/span>HT型)
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