参考价栻/p>100-150万元
型号
UHPS品牌
ruishenbao/瑞绅葅/span>产地
中国样本
暂无适用物料9/p>粉体
动力类型9/p>液压
最大压力(N):
320T工作气压(kpa):
320T功率(kw):
9.5重量(kg):
1.6T规格外形(长*?高)9/p>420×215×400mm
生产能力(kg/h):
实验室小批量虚拟号将180秒后失效
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瑞绅葅/span>UHPS型超高压制样系统是瑞绅葆分析技术(上海)有限公司研制的全球首台全自动超高压压片制样系统?*压力可达320吨。在X射线荧光光谱分析应用中具有广泛的应用、/span>
瑞绅葅/span>UHPS型超高压制样系统成套设备、技术与方法解决了一些样品采?/span>‛/span>低压“/span>压片不能直接压制有效样片或需要加入粘结剂才能压制成片的难题,真正实现对样品无损、无干扰、无‛/span>稀释效库/span>“/span>制样以用亍/span>XRF分析;同时还可替仢/span>XRF分析另一制样技?/span>—–/span>玻璃熔片泔/span>制样,克服了其制样效率低,存在样品的‛/span>稀释效库/span>“/span>,以及制样操作技术要求高和制样重复性不佳等诸多不利因素、/span>UHPS超高压制样系统是一种高效、节能、安全、环保的新型XRF制样设备,适用于各行业规模化使用,对科学研究、实验测试、产品质量检测与控制等的创新发展有着举足轻重的作用、/span>
n各类粉末材料均可直接压制,制样过程简单、/span>
n制样效率高,单个样品从加样到出样全程只需2分钟、/span>
n无需加入粘结剂或稀释剂,样?/span>‛/span>颗粒“/span>压制更紧密,提高元素的测量灵敏度、/span>
n样片表面形成‛/span>镜面效应“/span>,有效减轺/span>‛/span>矿物效应“/span>咋/span>‛/span>颗粒效应“/span>、/span>
n超高压样片无‛/span>稀释效库/span>“/span>咋/span>‛/span>粉末效应“/span>、/span>
n制样压力大(常规使用可高亍/span>200T),压力控制稳定安全,制样重现性佳、/span>
n全面改善XRF测定方法检出限、精密度、准确度和长期稳定性、/span>
n系统实现电脑程序数字控制,自动化程度高,操作简单、安全、方便、灵活、/span>
UHPS |
||
**压力规格 |
200T |
320T |
压力可调范围 |
0-200T |
0-320T |
工作温度要求 |
0~40ℂ/span> |
|
压力调节精度 |
0.1T |
|
工作方式 |
电动 |
|
液压沸/span> |
抗磨液压沸/span>46# |
|
电压 |
AC 380V±10%, 50 Hz, 32A, 3盷/span>5纾/span> |
|
功率 |
9.5kW |
|
压样尺寸 |
Φ40mm |
|
尺寸(L×W×H) |
800×800×1900mm + 550×650×1100mm |
|
净里/span> |
1.6T |
不同压样压力下粉末样品压片在XRF分析中的效应比较示意国/span>
UHPS超高压制样实例(制样方式和条件:直接压样,压劚/span>200T,保压时闳/span>10s(/span>
全套模具采用进口碳化钨材质,模具外层采用高韧性特种合金防爆箍主动防护,工作腔三周采用加厚钢板提供被动防护,防护罩观测窗采用双层防弹级耐高压有机玻璃,屏蔽门使用安全锁闭装置,多重防护确保使用安全、/span>
广泛粉末材料XRF分析—–/span>直接压片法制样:如土壤、岩石、矿石、水泥、水泥熟料、水泥原料炉渣、冶金粉末、催化剂、煤、粉煤灰、煤渣、粮食、植物、生物等各类无机、有机材料、/span>
超高压压
关于WCSB2003年以来,世界采样和混样大会(下称“WCSB”)已经成功举办8届,每两年举办一次,是全球采样和混样领域最具影响力的顶级国际学术盛会?019??~9日,2019(第九届)世界采栶/p>
为助力国产科学仪器发展,筛选和扶持一批优秀的科学仪器产品和企业,在中国仪器仪表行业协会、中国仪器仪表学会、北京科学仪器装备协作服务中心等单位的支持下,由仪器信息网主办、我要测网协办的“国产科学仪器腾飝/p>
一.背景信息小小硅铁作用大,炼钢炼铁全靠它。在钢铁行业中,硅铁铁合金行业占据着十分重要的地位。炼钢工业、铸造工业和铁合金工业是硅铁的最大用户。如在炼钢工业中,每生产1t钢大约消?-5kg75%硅铁、/p>
?948年Friedmann和Burks研制出第一台商用X射线荧光光谱仪起,x射线开始应用到光谱分析领域,由于光谱干扰少、检测元素范围广、含量测量范围宽(ppm?100%)、精密度高、重复性好、试
X 射线荧光实际上是一种表面分析方法,激发只发生在试样的浅表面,必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性,样品的平均粒度和粒度分布至关重要。被分析样品的粒度越小,同一元素粒度越小,制样稳定性越好,但是