弘度科学仪器(上海)有限公司
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美国Hinds应力双折射测量系绞/div>
美国Hinds应力双折射测量系统的图片
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美国Hinds成立?971年,凭借其**的PEM(光弹变调制)技术研发了高稳定的应力双折射测量系统,具有目前世界?*的精度,可用于测量以下样品的双折?快慢轴相位差/延迟度和快轴角度).

?光学器件

?液晶玻璃基板 液晶滤光牆/span>

?激光晶佒/span>

?DVDs

?光刻机部件, 如氟化钙窗口 融石英光学器件,光掩膜板筈/span>

?相机镜头

?太阳能硅片,半导体晶圅/span>

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