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上海昊扩科学器材有限公司
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产品分类
恒温/加热/干燥设备
德国宾德M53/ M115/M240/M400多功能材料测试箱
德国宾德VD115真空烘箱
德国宾德ED23精密烘箱
RJ50024
维根斯WIGGENS RJ12524 6联加热套,高温型
维根斯WIGGENS O401半球形加热套
制冷设备
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法国TMI温度验证系统
梅特勒XPR分析天平
梅特勒XSE分析天平
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梅特勒XP精密天平
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梅特勒ME精密天平
生物工程设备
伊孚森固态样品发酵罐Terrafors-IS Bacteria
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伊孚森灭菌生物反应器Techfors-S Cell
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伊孚森标准台式生物反应器Minifors Cell
INFORS振荡培养箱(细胞工厂)Multitron
伊弗森培养振荡箱Minitron
伊孚森生物培养摇床Celltron
混合朹/a>
维根斯WIGGENS LUMIX带光照功能磁力搅拌器
维根斯WIGGENS细胞培养专用低速搅拌器
维根斯WIGGENS数字式加热磁力搅拌器
维根斯WIGGENS红外线加热电磁搅拌器-平行反应
维根斯WIGGENS红外线加热电磁搅拌器
维根斯加热磁力搅拌器
测厚?/a>
Thermo Fisher瑞美RM115EL X射线荧光实验室涂层测厚仪
瑞美SC4000手持式油膜测厚仪
日本电测GCT-311型电解式镀层测厚仪
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日本电测EX-731型荧光X-Ray镀层测厚仪
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电磁/电涡流测厚仪FMP10、FMP20、FMP30、FMP40
热分析仪
TA仪器Q5000/Q500/Q50/Q600热重分析仪Q系列TGA
梅特勒超越系列热分析系统
梅特勒TGA–热重分析仪
梅特勒动态热机械分析仪TMA/SDTA 1
梅特勒超越系列熔点仪系列MP50;MP70;MP90
梅特勒超越系列滴点系统DP70;DP90
TA仪器Q2000/Q200/Q20/Q20P/AQ20/Q600差示扫描量热仪Q系列DSC
试验朹/a>
HEIDON HHS2000/3000负载可变式摩擦磨损试验机
HEIDON新东TYPE:30/30S往复摩擦试验机
仪力信erichsen249 MEK摩擦试验仪、耐划伤测试仪
仪力信杯突试验仪202EM电动杯凸试验仪、ERICHSEN200杯凸(突)试验机
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光学仪器及设夆/a>
林肯低温冻干显微镜FDCS196
色差仪、测色仪ColorQuest OL、ColorTrend HT
色差仪、测色仪ColorFlex EZ、ColorQuest XE、ColorQuest XT
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爱色丽手持式分光光度仪Ci6x系列?
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日立超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000
气体发生?气体处理
Chemtron高纯氢气发生器NM Plus系列
Chemtron氮空一体发生器MISTRAL EVO GAS-STATIO
Chemtron氮空一体发生器MISTRAL EVO HYBIRD
Chemtron氮气发生器MISTRAL EVO
Chemtron高纯氮发生器SPGN-2A
Chemtron GC和、GT超零级空气发生器
Chemtron H2发生?9”RACK PLUS
环境试验箰/a>
德国宾德MK高低温交变气候箱
昊扩恒温恒湿箱HK-GP-105H
德国宾德恒温恒湿箱KBF115、KBF720
德国宾德恒温恒湿箱KBF115、KBF720
美墨尔特恒温恒湿箱ICH110 ICH260 ICH750
色谱?/a>
Thermo Fisher气相色谱系统
岛津气相色谱仪GC-2018、GC-2010 Plus、GC-2014、GC-2014C
岛津气相色谱仪GC-2018、GC-2010 Plus、GC-2014、GC-2014C
液相色谱(LC) i-Series、Nexera UHPLC、Nexera MP LCMS
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日立高效液相色谱仪Primaide
清洗/消毒设备
粘度讠/a>
无损检?无损探伤仪器
HVLD高压泄露法包装密封性测试仪无损检测仪
高压泄露法包装密封性测试仪无损检测仪
包装密封性测试仪顶空分析法CO2无损检测仪
CCD无菌制剂全自动灯检仪灯检箱澄明度检测仪
光谱检测分析仪
岛津原子吸收分光光度计AA-7000、AA-6880
红外光谱(IR、傅立叶)Nicolet iS 50、Nicolet iS10、Nicolet 6700
红外光谱(IR、傅立叶)Nicolet iS 50、Nicolet iS10、Nicolet 6700
激光粒度仪
其他
分离/萃取设备
比表面积测定?/a>
电化学仪?/a>
产品简今/div>
超高分辨率扫描电子显微镜 SU8200系列
创新型冷场发射电子枪具有超高分辨率和电子束稳定?/strong>
这种新型的冷场发射电子枪采用日立**的“柔性闪烁”“Mild flashing”技术和全新改进的真空系统,在发射极尖端极大限度减少气体分子附着 发射极始终运行于“洁净”的状态,发射电流和电子束稳定性显著提升 即使在低加速电压下,也可以得到高信噪比的SEM信号并进行高分辨观察 这些增强性能开辟了低电压下元素微量分析的全新里程、/span>
SU8200系统具备全新设计的顶端过滤器,可增强电子检测特性 通过选择性地过滤非弹性散射电子和直接检测特定能量的背散射电子,可实现良好的对比度 这种选择性的过滤,在提高低加速电压下成分对比度方面尤为强大。样品台和样品室的防震措施以及光学系统的优化有助于提高分辨率?5 kV?.8 nm? kV 1.1 nm、/span>
SU8220 | SU8230 | SU8240 | ||
---|---|---|---|---|
二次电子分辨玆span>? | 0.8 nm (Vacc 15 kV WD=4 mm 放大倍数 270 k) 1.1 nm (着陆电 1 kV WD=1.5 mm 放大倍数 200 k)? |
|||
着陆电厊/th> | 0.01?0kV | |||
放大倍数 | 20-1?00?00? | |||
样品台控刵/th> | 5轴马达台 | 5轴马达台 | 5轴马达台 Regulus?样品?span>? |
|
行程范围 | X | 0?0mm | 0?10mm | 0?10mm |
Y | 0?0mm | 0?10mm | 0?0mm | |
R | 360 | |||
Z | 1.5?0mm | 1.5?0mm | 1.5?0mm | |
T | -5?0 | |||
样品台回位精?/th> | - | - | 0.5m或以上/td> |
*19/p>
使用日立高新技术样品在扫描电子显微镜图像测?小的粒子间隙
*29/p>
减速模式观寞/p>
*39/p>
基于127 mm x 95 mm底片指定的放大倍数
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