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颗粒物排放连续监测系?PM CEMS)
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美国
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高级会员 2平/div> 称: 广州伊创科技股份有限公司
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产品简今/div>

产品介绍

Thermo ScientificTM颗粒物排放连续监测系统的特点是采用两种测量方式,测量结果是可溯源至NIST标准的真正质量浓度,可以满足日益严格的精度要求

连续测量可过滤颗粒物

不会受颗粒物特性变化的影响

设计满足美国EPA PS-11的要汁/p>

TEOM方法进行内部质量参比校正

先进的技?/strong>

我们的颗粒物CEMS综合了光散射法和质量微天平方法的优点,可以准确测量烟气中颗粒物浓度。系统不受颗粒物大小、化学组成变化的影响,系统通过重量参比法进行线性修正。系统设计满足美国EPA性能规范PS 11、质量保证程序Procedure 2的要求,并通过了审核程序Method 5?7的验证、/p>

受电厂燃料、工艺过程、控制参数的影响,烟气颗粒物的变化性和动态特性变化非常强。颗粒物CEMS采用光散射、锥形微量震荡天平(TEOM)双测量原理,可以辨别质量浓度变化还是颗粒物其它特性变化。微型微量震荡天平(TEOM)是质量传感器,对连续测量的光散射设备进行内部参比校正、/p>

颗粒物CEMS采用稀释抽取法,允许更低的传输温度,并可以减少维护量,提高系统使用寿命和运行时间。按一定比例稀释的样品被抽取进入光散射平台,这一部分进行系统连续测量。在一个可选择的时间表中,样品通过光散射平台后,进入TEOM惯性微量天平平台对光散射响应换算为真正的质量浓度、/p>

颗粒物CEMS由稀释抽取探头,Model 3880i探头控制器,气动电气管束组成。烟道流速可以通过模拟量、数字化通讯方式输入进入系统,仪表气清洁系统和机箱空调都是可选项、/span>

产品介绍

Thermo ScientificTM颗粒物排放连续监测系统的特点是采用两种测量方式,测量结果是可溯源至NIST标准的真正质量浓度,可以满足日益严格的精度要求

连续测量可过滤颗粒物

不会受颗粒物特性变化的影响

设计满足美国EPA PS-11的要汁/p>

TEOM方法进行内部质量参比校正

先进的技?/strong>

我们的颗粒物CEMS综合了光散射法和质量微天平方法的优点,可以准确测量烟气中颗粒物浓度。系统不受颗粒物大小、化学组成变化的影响,系统通过重量参比法进行线性修正。系统设计满足美国EPA性能规范PS 11、质量保证程序Procedure 2的要求,并通过了审核程序Method 5?7的验证、/p>

受电厂燃料、工艺过程、控制参数的影响,烟气颗粒物的变化性和动态特性变化非常强。颗粒物CEMS采用光散射、锥形微量震荡天平(TEOM)双测量原理,可以辨别质量浓度变化还是颗粒物其它特性变化。微型微量震荡天平(TEOM)是质量传感器,对连续测量的光散射设备进行内部参比校正、/p>

颗粒物CEMS采用稀释抽取法,允许更低的传输温度,并可以减少维护量,提高系统使用寿命和运行时间。按一定比例稀释的样品被抽取进入光散射平台,这一部分进行系统连续测量。在一个可选择的时间表中,样品通过光散射平台后,进入TEOM惯性微量天平平台对光散射响应换算为真正的质量浓度、/p>

颗粒物CEMS由稀释抽取探头,Model 3880i探头控制器,气动电气管束组成。烟道流速可以通过模拟量、数字化通讯方式输入进入系统,仪表气清洁系统和机箱空调都是可选项、/span>

技术参

量程

0?50 mg/m3

准确?/span>

20%未进行污染源校正?#177; 10%污染源校正后

检测限

0.25 mg/m3@ 15分钟整合时间

响应时间(T90(/span>

15 分钟

电源

200?40 VAC @ 50/60 Hz 30A

仪表氓/span>

80 slpm @ 0.55~0.7MPa?5?00 psi(/span>

探头尺寸

1117.85mm?4.01”) (? + 914/1524mm?6?60 )护 X 474.73mm?8.69”) (? X 307.09mm?2.09”) (?

探头重量

59 Kg (130 lbs)

探头控制器尺寷/span>

482.6mm?9”) (? X 218.95mm?.62”) (? X 655.32mm?5.8”)(?

探头控制器重野/span>

25 Kg. (55 lbs)

**烟气温度

200 ?更高温度需向工厂确?

环境温度

探头控制器操作温??0 ℂ 无凝结水

模拟量输凹/span>

6 路电 0?00 mV 1 5 10 V? 路电 0-20 mA 4-20 mA

开关量输出

1 路电源故障, 10 路继电器

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