美国Microvision System成立�?993年，是全球显示器测试系统的主要供应商，可以检测FPD CRT，PLASMA� HDTV� OLED� HUD� HDD投影机等，应用于R&D� QC及工业测试。Microvision System以技术先进的产品及完善的售后服务，赢得用户的尊敬、�/span>

系统功能说明９�/span>

Microvision显示器测量系统可选择两种取样探头SS410及SS420，使用一组抵用平台和控制电脑，经由专业控制软件，进行显示器光学特性的自动测量和分析、�/span>

Microvision+SS410-XE+显示屏测量系绞�/span>

SS410-XE显示屏测量系绞�/span>

应用领域９�/span>

显示屏技�?/span>

自动测量平台

-TCO显示�?/span>6.0咋�/span>TCO笔记�?/span>

-ISO 9241-307标准

-VESA FPDM 2.0

-定制（用户自定义）测量平�?/span>

SS410-XE测量

CCD测量

- 光点亮度分析

- 线宽

-快速傅立叶转换(FFT’s)

-MTF调制转换函数计算

-收敛测试

-几何图（(Pincushion� Linearity� etc.)，可以得到所有几何失真的参数

-时变性测野�/span>(Jitter� Swim� Drift)

光谱�?/span>

-亮度

-色度和色�?/span>

-亮度/色彩均匀�?/span>

-可见光谱的频谱图

-伽马

-对比�?/span>

-色差

-3D显示分析

-3D眼镜测量

RTM(选配)

-动态模糉�/span>/动态伪僎�/span>/MPRT

-响应时间和闪先�/span>

-灰阶转换时间

SS410-XE特征

-高分辨率1392x1040 12位元数字CCD相机

-衍射光栅光谱�?/span>

-自动测量

-实时图像处理

-模式发生器（模拟和数字驱动）

-响应时间模组（选配（�/span>

-余弦扩散�?/span>

SS410-XE系统简介：

Microvision皃�/span>SS410-XE显示屏测量系统满足了广泛的测量需求以及具有自动测试和分析功能、�/span>SS410-XE是一套全方位钥匙系统，包括了一台计算机控制器，CCD和光谱仪数据采集相机。同时包括了三轴计算机控制定位系统，使得相机系统可快速、自动定位在UUT表面的任何位置。定位系统还能快速连接和断开任何一�?/span>SS400系列模组。系统信息展示采用了窗口用户界面以及测试结果生动地展示在简易界面以及可以以文本或耄�/span>CSV日记文件的格式导出、�/span>

自动测试平台

一个测试平台是一套预定义或者用户定义的测量平台。预定义的测量平台专门适用于工业标准，比如ISO，TCO咋�/span>VESA� 并且提供了电子数据表自动计算出所有通过/失败标准。用户自定义平台可以简单地组装仪器检测可检测列表中所需功能的各个参数。操作简单，菜单驱动界面友好，能在几分钟内兼容各种定制测试平台。每个用户自定义测量平台都可以保存并且能够在未来要使用时重新激活。测试平台同时提供了保存每个测试屏幕�?/span>BMP文件的功能，这样大大提高了结果处理的有效性、�/span>

系统组件９�/span>

机械定位系统

MicroVision的定位系统提供了水平＇�/span>X），垂直＇�/span>Y）和纵向＇�/span>Z）轴移动，全集成了驱动电子，电源和置于水平位置的接口。定位器的控制通过软件控制或者通过使用鼠标或者键盘进行自动操作、�/span>

系统软件

SS410-XE系统适用亍�/span>Win7操作系统，因为在Win7操作系统�?/span>GUI可允许系统的易点和点击操作和控制、�/span>GUI使得软件操作直观以及提供完成一系列的显示屏分析和测量功能。测量数据以文本文件报告生成，以及以全彩色图的形式展示以便更简单地集成结果、�/span>

SS410-XE光学模块

Microvision皃�/span>SS4410-XE模块可进行空间、光像、时域和色彩测量。模块包括了三个不同的光学系统：CCD相机，衍射光栅光谱仪以及一个选配的响应时间模坖�/span>(RTM)。具有自动控制机械快门，在没有操作员介入的情况下也可实现偏振/暗电流校准、�/span>

光学

SS410-XE光谱仪光学系统包括了一�?/span>12mm准直镜头和一个石英消偏器。一个选配的余弦用于测量照度值、�/span>SS410-XE CCD光学模块系统包括了一�?/span>25MM C Mount镜头和间隔工具。标准的放大率允许了11MM样本（平方）和可增加间隔或者提高或者减小放大率。提供了Ronchi Ruling用于空间校准。选配皃�/span>RTM模块采用了一�?/span>25MM C Mount镜头、�/span>

CCD相机

SS410–�/span>XE相机是一款数字化1392*1040 CCD带有同步捕捉功能咋�/span>6.45微米元素尺寸，平方。相机可校准�?/span>NIST可追溯标准和一个光学滤镜是专门设计用于测量亮度、�/span>CCD相机提供了空间和亮度测量、�/span>

计算机系绞�/span>

先进的台式电脑或者可以选择笔记本电脑进行所有系统组件的控制、�/span>

光谱�?/span>

SS410-XE是配置了非常高分辨率，多元素，温度控制衍射光栅光谱仪。仪器校准到NIST可追溯标准以及通过使用计算机控制传感稳定温度进行校准。光谱仪提供了亮度和色度的测量，同时可测量整个可见光谱（380nm-780nm）中的频谱图。可选择近红夕�/span>NIR。光纤组件缆线设定了光从测量表面发出到光谱仪的路径。由此产生的光谱会成像于2048元素CCD探测器以及数据会通过一�?/span>16位元A/D转换器转换到计算朹�/span>

SS410-XE系统规格参数

高分辨率数字CCD相机９�/strong>

成像传感器：	1392 x 1040 elements
数字视频９�/td>	12 bit
元素尺寸９�/td>	6.45 ��m� square pixels
同步９�/td>	Synchronous Capture
滤镜９�/td>	Photopic� 50%� 25%� 10%�?1% ND
标准镜头	25mm C mount� f1.6 to f16
视场	11 mm Standard� adjustable.
数字变焦９�/td>	up to 32X
亮度精度９�/td>	+/- 4% @2856K illuminant A
亮度范围９�/td>	0.05 to 106cd/m2with ND filters

测量时间９�/td>

<1 s for most measurements

衍射光栅光谱�?/span>

光谱范围９�/td>	380 to 780nm (1000nm optional)
亮度范围９�/td>	0.01 to 500K cd/m2**
亮度精度９�/td>	+/- 3% @ 2856K illuminant A
重复率：	RSD over 30 minutes < 0.5% 0.01 cd/m2 sensitivity is specified at 3% RSD
色彩精度９�/td>	+/- 0.002 @ 2856K
色彩重复率：	+/- 0.0005 @ 2856K
温度控制９�/td>	Computer controlled
光学９�/td>	12mm collimated system
接受角度９�/td>	1.5�� standard
集成时间９�/td>	16.7 ms - 5000 ms (sync @ 60Hz)
光学分辨率：	3.8 nm (slit width 100 ��m)
校准９�/td>	NIST Traceable calibration
操作温度９�/td>	5o - 30o C

范围包括了中性滤光片的使用�